Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits: Frontiers in Electronic Testing, cartea 17
Autor M. Bushnell, Vishwani Agrawalen Limba Engleză Paperback – 7 apr 2013
| Toate formatele și edițiile | Preț | Express |
|---|---|---|
| Paperback (1) | 777.43 lei 6-8 săpt. | |
| Springer Us – 7 apr 2013 | 777.43 lei 6-8 săpt. | |
| Hardback (1) | 783.95 lei 6-8 săpt. | |
| Springer Us – 30 noi 2000 | 783.95 lei 6-8 săpt. |
Din seria Frontiers in Electronic Testing
- 15%
Preț: 614.60 lei - 18%
Preț: 1067.07 lei - 18%
Preț: 911.64 lei - 18%
Preț: 909.82 lei - 18%
Preț: 915.73 lei - 18%
Preț: 908.14 lei - 18%
Preț: 909.08 lei - 18%
Preț: 1178.53 lei - 15%
Preț: 619.61 lei - 15%
Preț: 624.77 lei - 18%
Preț: 906.47 lei - 15%
Preț: 617.72 lei - 18%
Preț: 911.78 lei - 18%
Preț: 916.64 lei - 15%
Preț: 620.23 lei - 15%
Preț: 619.45 lei - 18%
Preț: 914.35 lei - 20%
Preț: 951.83 lei - 18%
Preț: 930.44 lei - 18%
Preț: 910.58 lei - 15%
Preț: 610.96 lei - 15%
Preț: 621.17 lei - 15%
Preț: 611.12 lei - 18%
Preț: 906.03 lei - 18%
Preț: 1172.00 lei - 15%
Preț: 670.52 lei - 18%
Preț: 921.81 lei
Preț: 777.43 lei
Preț vechi: 948.10 lei
-18% Nou
Puncte Express: 1166
Preț estimativ în valută:
137.56€ • 161.53$ • 120.75£
137.56€ • 161.53$ • 120.75£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 27 ianuarie-10 februarie 26
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9781475781427
ISBN-10: 1475781423
Pagini: 712
Ilustrații: XVIII, 690 p.
Dimensiuni: 178 x 254 x 37 mm
Greutate: 1.21 kg
Ediția:2002
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Seria Frontiers in Electronic Testing
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 1475781423
Pagini: 712
Ilustrații: XVIII, 690 p.
Dimensiuni: 178 x 254 x 37 mm
Greutate: 1.21 kg
Ediția:2002
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Seria Frontiers in Electronic Testing
Locul publicării:New York, NY, United States
Public țintă
ResearchCuprins
to Testing.- VLSI Testing Process and Test Equipment.- Test Economics and Product Quality.- Fault Modeling.- Test Methods.- Logic and Fault Simulation.- Testability Measures.- Combinational Circuit Test Generation.- Sequential Circuit Test Generation.- Memory Test.- DSP-Based Analog and Mixed-Signal Test.- Model-Based Analog and Mixed-Signal Test.- Delay Test.- IDDQ Test.- Design for Testability.- Digital DFT and Scan Design.- Built-In Self-Test.- Boundary Scan Standard.- Analog Test Bus Standard.- System Test and Core-Based Design.- The Future of Testing.