Transmission Electron Microscopy de C. Barry Carter

Transmission Electron Microscopy

Editat de C. Barry Carter, David B. Williams

en Limba Engleză Paperback – 12 iun 2018

ABORDAREA PRACTICĂ: Găsim în acest volum un echilibru tehnic riguros între fundamentul teoretic al microscopiei electronice de transmisie (TEM) și aplicabilitatea sa imediată în laborator. Spre deosebire de textele pur teoretice, Transmission Electron Microscopy pune accent pe instrucțiunile „hands-on”, oferind cititorului un ghid metodologic pentru caracterizarea materialelor. Recomandăm această a doua ediție pentru modul în care integrează peste 1200 de întrebări și exerciții, transformând o disciplină complexă într-un proces de învățare structurat.

Complementar lui Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials de Brent Fultz, care explorează în detaliu interacțiunea undelor cu materia și difracția de raze X, volumul de față se concentrează mult mai aplicat pe arhitectura instrumentului și pe tehnici specifice de operare, precum Kikuchi diffraction sau CBED. Structura cărții este segmentată logic pentru a facilita progresia: de la componentele fizice (lentile, pompe, surse de electroni) și pregătirea riguroasă a specimenelor, până la tehnici avansate de imagistică și analiză cantitativă prin spectrometrie de raze X.

În contextul operei autorilor, lucrarea reprezintă vârful de lance al expertizei lor în știința materialelor. C. Barry Carter face trecerea de la studiul structurilor cristaline și al defectelor, teme centrale în Ceramic Materials, la instrumentația de înaltă rezoluție necesară pentru a le observa. Dacă în volumele de conferință precum Applications of Microscopy in Materials and Life Sciences accentul cade pe noutățile din domeniu, acest manual rămâne resursa fundamentală pentru înțelegerea mecanismelor de contrast și a simulării de imagine, fiind esențial pentru orice cercetător care operează un microscop electronic.

Citește tot Restrânge

Preț: 558^.90 lei

Preț vechi: 690^.00 lei
-19%

Puncte Express: 838

Carte tipărită la comandă

Livrare economică 21-27 mai

Adaugă în coș

Wish list
Gift list
Am citit!

Adaugă în listă

Specificații

ISBN-13: 9783319799889
ISBN-10: 3319799886
Pagini: 552
Ilustrații: XXXIII, 518 p. 300 illus.
Dimensiuni: 210 x 279 x 28 mm
Greutate: 1.49 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st edition 2016
Editura: Springer
Locul publicării:Cham, Switzerland

De ce să citești această carte

Recomandăm această carte cercetătorilor și studenților la master sau doctorat care au nevoie de o bază solidă, dar practică, în utilizarea TEM. Câștigați acces la o metodologie clară de pregătire a probelor și interpretare a diagramelor de difracție. Este un instrument de lucru indispensabil în laborator, oferind soluții concrete pentru problemele de imagistică și analiză chimică prin spectrometrie, susținute de un suport vizual de excepție.

Despre autor

C. Barry Carter și David B. Williams sunt figuri proeminente în comunitatea științifică internațională. Carter este profesor distins, cunoscut pentru contribuțiile sale majore în domeniul materialelor ceramice și al microscopiei, fiind implicat activ în organizarea conferințelor de profil din Asia-Pacific. David B. Williams aduce o vastă experiență academică și practică în caracterizarea materialelor. Împreună, au creat un text care a devenit standardul global în domeniu, îmbinând rigoarea analitică cu o pedagogie adaptată nevoilor actuale din cercetare.

Cuprins

Foreword by Sir John Meurig Thomas.- 1. Electron Sources.- 2. In Situ and Operando.- 3. Electron Diffraction and Phase Identification.- 4. Convergent-Beam Diffraction: Symmetry and Large-Angle Patterns.- 5. Electron crystallography, charge-density mapping and nanodiffraction.- 6. Digital Micrograph.- 7. Electron waves, interference & coherence.- 8. Electron Holography.- 9. Focal-Series Reconstruction.- 10. Direct Methods For Image Interpretation.- 11. Imaging in the STEM.- 12. Electron Tomography.- 13. Energy-Filtered Transmission Electron Microscopy.- 14. Calculation of Electron Energy-Loss Spectra.- 15. Electron Diffraction & X-Ray Excitation.- 16. X-Ray and Electron Energy-Loss Spectral Imaging.- 17. Practical Aspects and Advanced Applications of XEDS.

Recenzii

“I would highly recommend this ‘companion’ volume for researchers and students of the materials and applied sciences; in fact, anybody using transmission electron microscopy in their research will extract many practical ideas … . Because of the high quality of the photographic images, composite illustrations, and text presentations, I suggest that this book has a place on the shelf of any electron microscopy laboratory. … The editors have put together a wonderful review volume that is well worth the read.” (David C. Bell, Microscopy and Microanalysis, Vol. 24 (03), June, 2018)

“Transmission Electron Microscopy, a Textbook for Materials Science, first published in 1996 with a second edition in 2009, is a comprehensive book on the subject, with a quite original approach. … The book was carefully designed for teaching purposes and its phenomenal success shows that this was time well spent.” (Peter Hawkes, Journal of Materials Science, Vol. 52, 2017)

Notă biografică

C. Barry Carter is the Editor-in-Chief of the Journal of Materials Science and a CINT Distinguished Affiliate Scientist. He teaches at UConn.

David B. Williams is the Monte Ahuja Endowed Dean’s Chair, Executive Dean of The Professional Colleges and Dean of the College of Engineering at The Ohio State University.

Textul de pe ultima copertă

This text is a companion volume to Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science by Williams and Carter. The aim is to extend the discussion of certain topics that are either rapidly changing at this time or that would benefit from more detailed discussion than space allowed in the primary text. World-renowned researchers have contributed chapters in their area of expertise, and the editors have carefully prepared these chapters to provide a uniform tone and treatment for this exciting material. The book features an unparalleled collection of color figures showcasing the quality and variety of chemical data that can be obtained from today’s instruments, as well as key pitfalls to avoid. As with the previous TEM text, each chapter contains two sets of questions, one for self assessment and a second more suitable for homework assignments. Throughout the book, the style follows that of Williams & Carter even when the subject matter becomes challenging—the aim is always to make the topic understandable by first-year graduate students and others who are working in the field of Materials Science.Topics covered include sources, in-situ experiments, electron diffraction, Digital Micrograph, waves and holography, focal-series reconstruction and direct methods, STEM and tomography, energy-filtered TEM (EFTEM) imaging, and spectrum imaging. The range and depth of material makes this companion volume essential reading for the budding microscopist and a key reference for practicing researchers using these and related techniques. Praise for Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science by Williams and Carter:
“The best textbook for this audience available.” — American Scientist
“...highly readable, and an extremely valuable text for all users of the TEM at every level. Treat yourself to a copy!” — Microscopy and Microanalysis
“This book is written in such a comprehensive manner that it is understandable to all people who are trained in physical science and it will be useful both for the expert as well as the student.” — Micron
“The book answers nearly any question - be it instrumental, practical, or theoretical - either directly or with an appropriate reference...This book provides a basic, clear-cut presentation of how transmission electron microscopes should be used and of how this depends specifically on one's specific undergoing project.” — MRS Bulletin
“It is truly a book so thoughtfully written that … it will provide a solid foundation for those studying material science….an outstanding book.” — IEEE Electrical Insulation Magazine, Vol. 26 (4), July/August, 2010

Caracteristici

An essential companion volume to Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science by Williams and Carter Equips the reader with a clear and deep understanding of TEM, the essential tool for studying nanomaterials Presents advanced topics with the same look, feel, and approach that students already know from Williams & Carter Features chapters on diffraction, high-resolution imaging, and chemical mapping by the leading experts in the field Provides the fundamentals for students to understand and interpret the results of electron tomography and electron holography, even if they will not employ these techniques themselves Includes supplementary material: sn.pub/extras