Transmission Electron Microscopy
Autor David B. Williams, C. Barry Carteren Limba Engleză Hardback – 5 aug 2009
ABORDAREA PRACTICĂ: Găsim în acest volum un echilibru tehnic riguros între fundamentul teoretic al microscopiei electronice de transmisie (TEM) și aplicabilitatea sa imediată în laborator. Spre deosebire de textele pur teoretice, Transmission Electron Microscopy pune accent pe instrucțiunile „hands-on”, oferind cititorului un ghid metodologic pentru caracterizarea materialelor. Recomandăm această a doua ediție pentru modul în care integrează peste 1200 de întrebări și exerciții, transformând o disciplină complexă într-un proces de învățare structurat. Complementar lui Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials de Brent Fultz, care explorează în detaliu interacțiunea undelor cu materia și difracția de raze X, volumul de față se concentrează mult mai aplicat pe arhitectura instrumentului și pe tehnici specifice de operare, precum Kikuchi diffraction sau CBED. Structura cărții este segmentată logic pentru a facilita progresia: de la componentele fizice (lentile, pompe, surse de electroni) și pregătirea riguroasă a specimenelor, până la tehnici avansate de imagistică și analiză cantitativă prin spectrometrie de raze X. În contextul operei autorilor, lucrarea reprezintă vârful de lance al expertizei lor în știința materialelor. C. Barry Carter face trecerea de la studiul structurilor cristaline și al defectelor, teme centrale în Ceramic Materials, la instrumentația de înaltă rezoluție necesară pentru a le observa. Dacă în volumele de conferință precum Applications of Microscopy in Materials and Life Sciences accentul cade pe noutățile din domeniu, acest manual rămâne resursa fundamentală pentru înțelegerea mecanismelor de contrast și a simulării de imagine, fiind esențial pentru orice cercetător care operează un microscop electronic.
Preț: 819.08 lei
Preț vechi: 1077.74 lei
-24%
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 21-27 mai
Specificații
ISBN-10: 038776500X
Pagini: 840
Ilustrații: LXII, 775 p.
Dimensiuni: 215 x 285 x 48 mm
Greutate: 2.51 kg
Ediția:2nd edition 2009
Editura: Springer
Locul publicării:New York, NY, United States
Public țintă
ResearchDe ce să citești această carte
Recomandăm această carte cercetătorilor și studenților la master sau doctorat care au nevoie de o bază solidă, dar practică, în utilizarea TEM. Câștigați acces la o metodologie clară de pregătire a probelor și interpretare a diagramelor de difracție. Este un instrument de lucru indispensabil în laborator, oferind soluții concrete pentru problemele de imagistică și analiză chimică prin spectrometrie, susținute de un suport vizual de excepție.
Despre autor
C. Barry Carter și David B. Williams sunt figuri proeminente în comunitatea științifică internațională. Carter este profesor distins, cunoscut pentru contribuțiile sale majore în domeniul materialelor ceramice și al microscopiei, fiind implicat activ în organizarea conferințelor de profil din Asia-Pacific. David B. Williams aduce o vastă experiență academică și practică în caracterizarea materialelor. Împreună, au creat un text care a devenit standardul global în domeniu, îmbinând rigoarea analitică cu o pedagogie adaptată nevoilor actuale din cercetare.
Cuprins
Recenzii
“This book is intended to be used as a textbook for material science students studying the theory, operation, and application of the TEM. It is truly a book so thoughtfully written that … it will provide a solid foundation for those studying material science. It is richly illustrated with full-color figures and illustrations throughout the text. … There are an abundant number of references at the end of each chapter for further study … . This is an outstanding book … .” (IEEE Electrical Insulation Magazine, Vol. 26 (4), July/August, 2010)
“D.B. Williams and C.B. Carter have now prepared a new edition, splendidly produced by Springer with colour throughout. … This textbook is magnificent, written in a very readable style, immensely knowledgeable, drawing attention to difficulties and occasionally to unsolved problems. Any microscopist who has mastered … the book relevant to his projects will be well armed for battle. … Buy this book!” (P. W. Hawkes, Ultramicroscopy, Vol. 110, 2010)
Textul de pe ultima copertă
Key Features:
- Undisputed market leader, now completely revised and updated
- Ideal for use as a teaching text at the advanced undergraduate and graduate levels and as a hands-on reference for materials scientists
- Explains why a particular technique should be used and how a specific concept can be put into practice
- Nearly 700 figures and diagrams, most in full color
`The best textbook for this audience available.' – American Scientist
"...highly readable, and an extremely valuable text for all users of the TEM at every level. Treat yourself to a copy!" – Microscopy and Microanalysis
`This book is written in such a comprehensive manner that it is understandable to all people who are trained in physical science and it will be useful both for the expert as well as the student.' – Micron
`The book answers nearly any question - be it instrumental, practical, or theoretical - either directly or with an appropriate reference...This book provides a basic, clear-cut presentation of how transmission electron microscopes should be used and of how this depends specifically on one's specific undergoing project.' – MRS Bulletin
`The only complete text now available which includes all the remarkable advances made in the field of TEM in the past 30-40 years....The authors can be proud of an enormous task, very well done.' – from the Foreword by Professor Gareth Thomas, University of California, Berkeley