Topics in Electron Diffraction and Microscopy of Materials: Series in Microscopy in Materials Science

Ne-a atras atenția modul în care acest volum utilizează tehnica fasciculului slab (weak-beam) și monitorizarea in-situ prin RHEED pentru creșterea MBE ca piloni pentru rezolvarea problemelor practice în știința materialelor. Suntem de părere că forța acestei lucrări rezidă în capacitatea de a transforma concepte teoretice complexe, precum teoria dinamică a difracției electronilor, în instrumente de analiză aplicată pentru structurile de defecte și interacțiunile dislocațiilor. Ediția de față, publicată de CRC Press, reunește contribuții ale unor experți de renume, fiind coordonată de Peter. B Hirsch.

Structura volumului este una progresivă, debutând cu o perspectivă istorică asupra contrastului de difracție în microscopia electronică de transmisie, pentru a avansa rapid către metode moderne de imagistică fără aberații și identificarea legăturilor atomice. Această organizare reflectă tranziția domeniului de la observația macroscopică la înțelegerea comportamentului materialelor la nivel atomic. Volumul completează perspectiva oferită de Understanding Materials, adăugând un accent tehnic mai pronunțat pe difracția electronică și pe fundamentele fizice ale împrăștierii inelastice, acolo unde lucrarea lui Colin Humphreys se concentrează mai mult pe o revizuire generală a științei materialelor.

Credem că rigoarea cu care sunt tratate spectrele de pierdere de valență rezolvate spațial și simulările numerice pentru structura electronică a cristalelor face din acest titlu o resursă tehnică indispensabilă. Spre deosebire de manualele introductive, lucrarea de față se adresează profesioniștilor care au nevoie de o înțelegere profundă a modului în care difracția și microscopia colaborează pentru a descifra secretele materiei condensate.