Cantitate/Preț
Produs
Total produse
Vezi coșul
XAFS for Everyone de Scott Calvin

XAFS for Everyone

Autor Scott Calvin
en Limba Engleză Hardback – 22 iul 2024

ACTUALIZAREA: Această a doua ediție a lucrării XAFS for Everyone marchează o evoluție semnificativă față de versiunea precedentă, integrând progresele tehnologice majore din ultimii ani. Notăm cu interes includerea unor capitole dedicate rezoluției spațiale și temporale, precum și abordarea tehnicilor de ultimă oră, cum sunt împrăștierea inelastică rezonantă de raze X (RIXS) și detecția fluorescenței cu rezoluție energetică înaltă (HERFD). De asemenea, secțiunile despre transformatele wavelet și separarea surselor „oarbe” (blind source separation) răspund nevoilor actuale de prelucrare complexă a datelor sincrotron.

Descoperim aici o structură riguros organizată în patru părți fundamentale. Prima parte se concentrează pe hardware și designul experimentului, oferind detalii despre noile surse de lumină precum NSLS-II sau MAX IV. Partea a doua și a treia sunt dedicate analizei și modelării, unde reținem explicațiile detaliate despre analiza componentelor principale și ajustarea curbelor pe standarde teoretice. Ultima parte ancorează teoria în realitate prin opt studii de caz preluate din literatura de specialitate. Cititorul care a aplicat ideile introductive din Introduction to XAFS de Grant Bunker va găsi aici o completare practică esențială, în special în ceea ce privește compromisurile necesare în experimentele din lumea reală.

Stilul autorului Scott Calvin rămâne unul distinctiv în literatura tehnică. Așa cum a demonstrat și în Cartoon Physics, acesta utilizează elemente vizuale atipice — personaje de desene animate care ghidează cititorul prin concepte matematice și fizice dificile — pentru a face materia accesibilă fără a sacrifica rigoarea academică. Această abordare transformă un manual de 460 de pagini într-un instrument de lucru interactiv, facilitând înțelegerea derivărilor complexe și a calculelor de probă.

Citește tot Restrânge

Preț: 72366 lei

Preț vechi: 79524 lei
-9%

Puncte Express: 1085
Paperback 68302 lei
Hardback 72366 lei

Carte disponibilă

Livrare economică 11-25 mai
Livrare express 25 aprilie-01 mai pentru 6278 lei

 Adaugă în coș

Wish list
Gift list
Am citit!
Adaugă în listă

Specificații

ISBN-13: 9781032745480
ISBN-10: 1032745487
Pagini: 444
Ilustrații: 452
Dimensiuni: 210 x 280 x 33 mm
Greutate: 1.26 kg
Ediția:2. Auflage
Editura: CRC Press
Colecția CRC Press
Locul publicării:Boca Raton, United States

Public țintă

Postgraduate and Professional

De ce să citești această carte

Recomandăm această carte cercetătorilor și studenților care au nevoie de un ghid aplicat pentru spectroscopia de structură fină de absorbție a razelor X. Dincolo de teorie, câștigați experiență practică prin cele 325 de ilustrații și studii de caz din domenii variate (de la cataliză la arheologie). Este resursa ideală pentru a înțelege nu doar cum se colectează datele la un sincrotron, ci și cum se interpretează corect rezultatele în contextul noilor tehnologii HERFD și RIXS.

Despre autor

Scott Calvin este un cercetător și educator proeminent în domeniul fizicii chimice. În prezent, colaborează cu Academia Națională de Științe din SUA, desfășurând activități de cercetare focusate pe materiale la scară nanometrică în cadrul Laboratorului de Cercetare Navală din Washington, DC. Experiența sa pedagogică este reflectată în abordările sale editoriale inovatoare, fiind cunoscut pentru utilizarea formatelor vizuale (precum romanele grafice în Cartoon Physics) pentru a preda concepte complexe. Interesul său pentru istoria științei și diversitate este vizibil și în lucrarea Beyond Curie, unde explorează contribuțiile femeilor în fizică.

Descriere scurtă

XAFS for Everyone provides a practical, thorough guide to x-ray absorption fine structure (XAFS) spectroscopy for both novices and seasoned practitioners from a range of disciplines. It’s enhanced with more than 200 figures as well as cartoon characters who offer informative commentary on the different approaches used in XAFS spectroscopy.
This second edition now includes chapters on spatial and temporal resolution, alternative measurement modes including resonant inelastic x-ray scattering (RIXS) and high-energy resolution fluorescence detection (HERFD), and an expanded chapter on experimental design. In addition, this edition adds new sections on wavelet transforms, blind source separation, free electron lasers, and theoretical XANES standards, as well as three new case studies.
XAFS for Everyone covers sample preparation, data reduction, tips and tricks for data collection, fingerprinting, linear combination analysis, principal component analysis, and modeling using theoretical standards. It describes both near-edge (XANES) and extended (EXAFS) applications in detail. Examples throughout the text are drawn from diverse areas, including materials science, environmental science, structural biology, catalysis, nanoscience, chemistry, art, and archaeology. In addition, eight case studies from the literature demonstrate the use of XAFS principles and analysis in practice.
The text includes derivations and sample calculations to foster a deeper comprehension of the results. Whether you are encountering this technique for the first time or looking to hone your craft, this innovative and engaging book gives you insight on implementing XAFS spectroscopy and interpreting XAFS experiments and results. It helps you understand real-world trade-offs and the reasons behind common rules of thumb.
Key Points:
  • New cases studies will be added to the end of the book
  • Multiple sections are being refreshed or almost completely re-written to reflect the changes in the field since the first edition. For example: important new synchrotron light sources have come in to operation across the world, including NSLS-II in North America, MAX IV and Solaris in Europe, the Taiwan Photon Source in eastern Asia, and SESAME in the Middle East. New analysis software has been developed, while other software has fallen in to disuse.
  • Discussions of wavelength dispersive detectors will be added throughout the book, as well as wavelet transforms

Cuprins

Front Matter  Part 1: The XAFS Experiment  1. XAFS in a Nutshell  2. The Hardware: Light Sources, Beamlines, and Detectors  3. Spatial and Temporal Resolution  4. High-Energy-Resolution Techniques  5. Experimental Design  6. Sample Preparation  7. Data Reduction  8. Data Collection  Part 2: XAFS Analysis  9. Fingerprinting  10. Linear Combination Analysis  11. Principal Component Analysis  12. Curve Fitting to Theoretical Standards  Part 3: Modeling  13. A Dictionary of Parameters  14. Identifying a Good Fit  15. The Process of Fitting  16. Starting Structures  17. Constraints  Part 4: XAFS in the Literature  18. Communicating XAFS  19. Case Studies

Notă biografică

Scott Calvin has been using x-ray absorption fine structure (XAFS) since 1998 to study systems as diverse as solar cells, magnetic nanoparticles, soil samples, battery cathodes, analogues to atmospheric dust particles, and pigments used in 18th-century paintings. Dr. Calvin is currently the director of the prehealth program at Lehman College of the City University of New York, helping students their achieve their dreams of becoming physicians, dentists, pharmacists, veterinarians, and more.

Recenzii

"The book is very timely … It is unique in covering theoretical background and experimental details to data analysis in a way that is easy to understand. It will be very valuable to anyone who is interested in using x-ray spectroscopy by helping them to better design and get more out of their experiments."
—Dr. Chi-Chang Kao, Director, SLAC National Accelerator Laboratory
"The author has found fun and engaging ways to explain details of XAFS that otherwise can seem so dry. I am sure that folks who use my beamline and software will love XAFS for Everyone."
—Dr. Bruce Ravel, National Institute of Standards and Technology
"A unique presentation with great value for readers and special emphasis on practical aspects … a ‘must have’ for XAFS scientists and beamlines."
—Prof. Mark C. Ridgway, Department of Electronic Materials Engineering, Australian National University
"This book will be useful to graduate students, post docs, and researchers. I highly recommend it."
—Dr. Richard W. Strange, Molecular Biophysics, The University of Liverpool