XAFS for Everyone
Autor Scott Calvinen Limba Engleză Paperback – 20 mai 2013
ACTUALIZAREA: Această a doua ediție a lucrării XAFS for Everyone marchează o evoluție semnificativă față de versiunea precedentă, integrând progresele tehnologice majore din ultimii ani. Notăm cu interes includerea unor capitole dedicate rezoluției spațiale și temporale, precum și abordarea tehnicilor de ultimă oră, cum sunt împrăștierea inelastică rezonantă de raze X (RIXS) și detecția fluorescenței cu rezoluție energetică înaltă (HERFD). De asemenea, secțiunile despre transformatele wavelet și separarea surselor „oarbe” (blind source separation) răspund nevoilor actuale de prelucrare complexă a datelor sincrotron.
Descoperim aici o structură riguros organizată în patru părți fundamentale. Prima parte se concentrează pe hardware și designul experimentului, oferind detalii despre noile surse de lumină precum NSLS-II sau MAX IV. Partea a doua și a treia sunt dedicate analizei și modelării, unde reținem explicațiile detaliate despre analiza componentelor principale și ajustarea curbelor pe standarde teoretice. Ultima parte ancorează teoria în realitate prin opt studii de caz preluate din literatura de specialitate. Cititorul care a aplicat ideile introductive din Introduction to XAFS de Grant Bunker va găsi aici o completare practică esențială, în special în ceea ce privește compromisurile necesare în experimentele din lumea reală.
Stilul autorului Scott Calvin rămâne unul distinctiv în literatura tehnică. Așa cum a demonstrat și în Cartoon Physics, acesta utilizează elemente vizuale atipice — personaje de desene animate care ghidează cititorul prin concepte matematice și fizice dificile — pentru a face materia accesibilă fără a sacrifica rigoarea academică. Această abordare transformă un manual de 460 de pagini într-un instrument de lucru interactiv, facilitând înțelegerea derivărilor complexe și a calculelor de probă.
Preț: 683.02 lei
Preț vechi: 955.22 lei
-28%
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 01-15 iunie
Specificații
ISBN-10: 1439878633
Pagini: 460
Ilustrații: 325 black & white illustrations, 9 colour illustrations, 18 black & white tables
Dimensiuni: 210 x 280 x 23 mm
Greutate: 1.08 kg
Ediția:New.
Editura: CRC Press
Colecția CRC Press
Public țintă
Postgraduate and UndergraduateDe ce să citești această carte
Recomandăm această carte cercetătorilor și studenților care au nevoie de un ghid aplicat pentru spectroscopia de structură fină de absorbție a razelor X. Dincolo de teorie, câștigați experiență practică prin cele 325 de ilustrații și studii de caz din domenii variate (de la cataliză la arheologie). Este resursa ideală pentru a înțelege nu doar cum se colectează datele la un sincrotron, ci și cum se interpretează corect rezultatele în contextul noilor tehnologii HERFD și RIXS.
Despre autor
Scott Calvin este un cercetător și educator proeminent în domeniul fizicii chimice. În prezent, colaborează cu Academia Națională de Științe din SUA, desfășurând activități de cercetare focusate pe materiale la scară nanometrică în cadrul Laboratorului de Cercetare Navală din Washington, DC. Experiența sa pedagogică este reflectată în abordările sale editoriale inovatoare, fiind cunoscut pentru utilizarea formatelor vizuale (precum romanele grafice în Cartoon Physics) pentru a preda concepte complexe. Interesul său pentru istoria științei și diversitate este vizibil și în lucrarea Beyond Curie, unde explorează contribuțiile femeilor în fizică.
Descriere scurtă
The book covers sample preparation, data reduction, tips and tricks for data collection, fingerprinting, linear combination analysis, principal component analysis, and modeling using theoretical standards. It describes both near-edge (XANES) and extended (EXAFS) applications in detail. Examples throughout the text are drawn from diverse areas, including materials science, environmental science, structural biology, catalysis, nanoscience, chemistry, art, and archaeology. In addition, five case studies from the literature demonstrate the use of XAFS principles and analysis in practice. The text includes derivations and sample calculations to foster a deeper comprehension of the results.
Whether you are encountering this technique for the first time or looking to hone your craft, this innovative and engaging book gives you insight on implementing XAFS spectroscopy and interpreting XAFS experiments and results. It helps you understand real-world trade-offs and the reasons behind common rules of thumb.
Notă biografică
Cuprins
Recenzii
—Dr. Chi-Chang Kao, Director, SLAC National Accelerator Laboratory
"The author has found fun and engaging ways to explain details of XAFS that otherwise can seem so dry. I am sure that folks who use my beamline and software will love XAFS for Everyone."
—Dr. Bruce Ravel, National Institute of Standards and Technology
"A unique presentation with great value for readers and special emphasis on practical aspects … a ‘must have’ for XAFS scientists and beamlines."
—Prof. Mark C. Ridgway, Department of Electronic Materials Engineering, Australian National University
"This book will be useful to graduate students, post docs, and researchers. I highly recommend it."
—Dr. Richard W. Strange, Molecular Biophysics, The University of Liverpool