Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings de Dit-Yan Yeung

Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings: Lecture Notes in Computer Science, cartea 4109

Editat de Dit-Yan Yeung, James T. Kwok, Ana Fred, Fabio Roli, Dick de Ridder

en Limba Engleză Paperback – 3 aug 2006

Din seria Lecture Notes in Computer Science

Preț: 643^.33 lei

Preț vechi: 804^.17 lei
-20%

Puncte Express: 965

Carte tipărită la comandă

Livrare economică 28 iulie-11 august

Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.

Transport gratuit pentru acest produs Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.

Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.

Adaugă în coș

Wish list
Gift list
Am citit!

Adaugă în listă

Specificații

ISBN-13: 9783540372363
ISBN-10: 3540372369
Pagini: 968
Ilustrații: XXI, 939 p.
Dimensiuni: 155 x 235 x 50 mm
Greutate: 1.07 kg
Ediția:2006
Editura: Springer Berlin, Heidelberg
Colecția Springer
Seriile Lecture Notes in Computer Science, Image Processing, Computer Vision, Pattern Recognition, and Graphics

Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany

Public țintă

Research

Cuprins

Invited Talks.- SSPR.- Poster Papers.- SPR.- Poster Papers.