Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings de Dit-Yan Yeung

Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings: Lecture Notes in Computer Science, cartea 4109

Editat de Dit-Yan Yeung, James T. Kwok, Ana Fred, Fabio Roli, Dick de Ridder

en Limba Engleză Paperback – 3 aug 2006

Din seria Lecture Notes in Computer Science

Preț: 643^.33 lei

Preț vechi: 804^.17 lei
-20% Nou

Puncte Express: 965

:
113^.86€ • 133^.52$ • 99^.83£

Carte tipărită la comandă

Livrare economică 26 ianuarie-09 februarie 26

Adaugă în coș

Wish list
Gift list
Am citit!

Adaugă în listă

Preluare comenzi: 021 569.72.76

Specificații

ISBN-13: 9783540372363
ISBN-10: 3540372369
Pagini: 968
Ilustrații: XXI, 939 p.
Dimensiuni: 155 x 235 x 50 mm
Greutate: 1.07 kg
Ediția:2006
Editura: Springer Berlin, Heidelberg
Colecția Springer
Seriile Lecture Notes in Computer Science, Image Processing, Computer Vision, Pattern Recognition, and Graphics

Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany

Public țintă

Research

Cuprins

Invited Talks.- SSPR.- Poster Papers.- SPR.- Poster Papers.