High-Resolution Electron Microscopy

Observăm că, în ciuda progreselor tehnologice rapide, literatura academică a dus lipsă de un volum care să integreze coerent corecția aberațiilor de ordin superior cu protocoalele practice de laborator pentru microscopia modernă. High-Resolution Electron Microscopy vine să completeze exact această lacună, oferind o sinteză între fundamentul teoretic al opticii electronice și cerințele experimentale actuale. Această a patra ediție, publicată de OUP OXFORD, păstrează rigoarea tratamentului împrăștierii multiple, dar introduce secțiuni vitale despre super-rezoluție, Ronchigrame și cuantificarea imaginii.

Remarcăm o extindere semnificativă a ariei de aplicabilitate, de la metalurgie la biologia structurală prin criomicroscopie electronică. Cititorii familiarizați cu Scanning Transmission Electron Microscopy de Stephen J. Pennycook vor aprecia aici abordarea complementară a lui John C. H. Spence, care insistă pe proceduri pas-cu-pas pentru obținerea imaginilor de rezoluție atomică. În comparație cu Electron Nano-ïmaging de Nobuo Tanaka, volumul de față oferă un context istoric și teoretic mai vast asupra opticii wave-aberration până la ordinul al cincilea.

Suntem de părere că această lucrare reprezintă punctul culminant al cercetării autorului, poziționându-se ca o continuare firească a volumului Advanced Transmission Electron Microscopy. Dacă în lucrările anterioare accentul cădea pe microdifracție, aici John C. H. Spence reușește să cuprindă întreg spectrul analitic, de la spectroscopia pierderii de energie la cathodoluminescență, menținând totodată o claritate didactică esențială pentru mediul universitar.