Scanning Transmission Electron Microscopy de Stephen J. Pennycook

Scanning Transmission Electron Microscopy

Editat de Stephen J. Pennycook, Peter D. Nellist

en Limba Engleză Hardback – 22 mar 2011

În volumul Scanning Transmission Electron Microscopy, considerăm că cititorul beneficiază de una dintre cele mai riguroase sinteze tehnice asupra microscopiei electronice cu scanare prin transmisie, o metodă care a redefinit standardele de imagistică la scară atomică. Lucrarea debutează cu o analiză detaliată a opticii electronice și a corecției aberațiilor, elemente critice pentru obținerea unei rezoluții sub-angstrom. Această bază teoretică este esențială pentru a înțelege evoluția instrumentației moderne, oferind fundamentul necesar pentru capitolele dedicate formării imaginii și teoriei împrăștierii.

Recomandăm acest tratat pentru modul în care reușește să integreze spectroscopia (EELS și EDX) cu imagistica structurală, o abordare care completează organic lucrările anterioare ale lui Stephen J. Pennycook, precum Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy. Dacă în acea lucrare accentul era pus pe materiale supraconductoare, volumul de față extinde aria de aplicabilitate către oxizi complecși, aliaje, catalizatori și dispozitive semiconductoare. Cititorul care a aplicat deja metodele fundamentale descrise în High-Resolution Electron Microscopy de John C. H. Spence va găsi aici o specializare necesară pe configurația STEM, unde controlul fasciculului sondă și detectorii segmentați oferă un contrast diferit față de microscopia TEM convențională.

Structura editorială este organizată progresiv, de la principii fizice la metodologii de nișă, cum ar fi tomografia 3D și difracția nanobeam. Această succesiune transformă textul dintr-un manual universitar într-un instrument de lucru indispensabil pentru cercetătorii din știința materialelor și nanotehnologie, oferind studii de caz concrete care demonstrează sensibilitatea tehnicii în detectarea atomilor individuali.

Citește tot Restrânge

Preț: 1366^.85 lei

Preț vechi: 1666^.90 lei
-18%

Puncte Express: 2050

Carte tipărită la comandă

Livrare economică 23 mai-06 iunie

Adaugă în coș

Wish list
Gift list
Am citit!

Adaugă în listă

Specificații

ISBN-13: 9781441971999
ISBN-10: 1441971998
Pagini: 776
Ilustrații: XII, 762 p.
Dimensiuni: 183 x 260 x 47 mm
Greutate: 1.62 kg
Ediția:2011
Editura: Springer
Locul publicării:New York, NY, United States

Public țintă

Professional/practitioner

De ce să citești această carte

Această lucrare este esențială pentru specialiștii în microscopie și cercetătorii care doresc să stăpânească tehnicile de analiză la rezoluție atomică. Cititorul câștigă o înțelegere profundă a interacțiunii electron-probă și a metodelor de corecție a aberațiilor, fundamentale pentru interpretarea corectă a datelor experimentale în nanotehnologie și fizica stării solide. Este un ghid complet care transformă teoria complexă în expertiză practică pentru laborator.

Despre autor

Stephen J. Pennycook este un cercetător de renume mondial, recunoscut pentru contribuțiile sale de pionierat în dezvoltarea microscopiei electronice cu scanare prin transmisie (STEM) și a tehnicii de tip Z-contrast. Peter D. Nellist este profesor la Universitatea Oxford, specializat în optica electronică și reconstrucția fazei. Împreună, cei doi editori au reușit să coordoneze un colectiv de 44 de autori distinși pentru a documenta statutul actual al domeniului. Expertiza lor este reflectată în numeroase publicații academice de prestigiu, fiind considerați responsabili pentru transformarea STEM într-o tehnică de analiză standard în știința materialelor la nivel global.

Descriere scurtă

Scanning transmission electron microscopy has become a mainstream technique for imaging and analysis at atomic resolution and sensitivity, and the authors of this book are widely credited with bringing the field to its present popularity. Scanning Transmission Electron Microscopy(STEM): Imaging and Analysis will provide a comprehensive explanation of the theory and practice of STEM from introductory to advanced levels, covering the instrument, image formation and scattering theory, and definition and measurement of resolution for both imaging and analysis. The authors will present examples of the use of combined imaging and spectroscopy for solving materials problems in a variety of fields, including condensed matter physics, materials science, catalysis, biology, and nanoscience. Therefore this will be a comprehensive reference for those working in applied fields wishing to use the technique, for graduate students learning microscopy for the first time, and for specialists in other fields of microscopy.

Cuprins

Electron Optics and Aberration Correction.- Fundamentals of Scattering Theory.- Image formation in STEM.- Electron energy loss spectroscopy.- Energy dispersive x-ray analysis.- STEM of complex oxides.- STEM of complex alloys.- STEM of catalysts.- STEM of semiconductor devices.- STEM of ceramic materials.- STEM of quasicrystals.- STEM of nanomaterials.- 3D STEM: tomography.- 3D STEM: depth slicing.- Nanobeam diffraction.

Recenzii

From the reviews:
“To describe in 18 chapters the current status in a wide field, a dazzling list of no less than 44 distinguished authors has been assembled. Fortunately, the role of the editors has continued well beyond the point of producing their own chapters to ensure that these different contributions are reasonably well integrated with a useful index….The editors’ assertion that the experiment of focusing a beam of electrons down to an atomic scale and measuring its scattering has spectacular outcomes is most abundantly proved here.”
--Archie Howie, Microscopy and Microanalysis
“The book opens with a magnificent 90-page history of STEM by S.J. Pennycook, which traces the story of the instrument from von Ardenne’s microscope of the late 1930s to such very recent innovations as the confocal mode of operation. … Very readable, lavishly illustrated and extremely thorough, this will remain a key publication on the history of the STEM.” (Ultramicroscopy, Vol. 116, 2012)

Notă biografică

Stephen J. Pennycook obtained his B.A. degree in natural sciences from the University of Cambridge, England, in 1975, and his M.A. and Ph.D. degrees in physics from the same institution in 1978. He then continued at the University of Cambridge Cavendish Laboratory in postdoctoral positions until moving to the ORNL Solid State Division in 1982, where he is now the leader of the Electron Microscopy Group. His main research interest is the study of materials through the technique of Z-contrast scanning transmission electron microscopy (STEM). This technique provides a directly interpretable image of materials at the atomic scale, in which higher atomic numbers (Z) show brighter. It overcomes the phase problem associated with conventional electron microscopy and diffraction techniques by establishing incoherent imaging conditions, the electron equivalent of incoherent imaging in the optical microscope first described by Lord Rayleigh in 1895. Currently, the Solid State Division's 300-kV STEM produces the world's smallest electron probe, just 1.3 angstroms in diameter. The development of the Z-contrast technique has earned Dr. Pennycook an R&D 100 Award, the Heinrich Award from the Microbeam Analysis Society, a U.S. Department of Energy (DOE) Award for Outstanding Achievement in Solid State Sciences, and the Materials Research Society Medal. Recently, his research has focused on grain boundaries in ceramics, which resulted in a DOE Award for Outstanding Achievement in Metallurgy and Ceramics, as well as applications to optoelectronic materials, catalysts, and nanoparticles. Dr Peter D. Nellist's research centres on the applications and development of high-resolution electron microscope techniques, in particular scanning transmission electron microscopy (STEM), including atomic resolution Z-contrast imaging, electron energy-loss spectroscopy and applications of spherical aberration correctors. His technique development work includes methods for the three-dimensional imaging and spectroscopy of materials, and methods to allow high resolution imaging and spectroscopy of radiation sensitive materials. The aim is to use microscopy data in a quantitative way to make measurements of the atomic and electronic structure of materials.

Caracteristici

Provides the first comprehensive treatment of the physics and applications of this mainstream technique for imaging and analysis at the atomic level Presents applications of STEM in condensed matter physics, materials science, catalysis, and nanoscience Suitable for graduate students learning microscopy, researchers wishing to utilize STEM, as well as for specialists in other areas of microscopy Edited and written by leading researchers and practitioners Includes supplementary material: sn.pub/extras