Computer Modelling in Tomography and Ill-Posed Problems: Inverse and Ill-Posed Problems Series, cartea 27
Autor Mikhail M. Lavrent'ev, Sergei M. Zerkal, Oleg E. Trofimoven Limba Engleză Electronic book text – 31 dec 2000
- Mathematical basis of the method of computerized tomography
- Cone-beam tomography reconstruction
- Inverse kinematic problem in the tomographic setting
Din seria Inverse and Ill-Posed Problems Series
- 27%
Preț: 1042.33 lei - 27%
Preț: 1193.06 lei - 23%
Preț: 2221.31 lei - 23%
Preț: 1413.54 lei - 23%
Preț: 1117.43 lei - 23%
Preț: 1856.87 lei - 23%
Preț: 1340.64 lei - 23%
Preț: 1118.45 lei - 23%
Preț: 1853.15 lei - 23%
Preț: 1117.87 lei - 27%
Preț: 1090.85 lei - 27%
Preț: 1400.95 lei - 27%
Preț: 992.75 lei - 27%
Preț: 1401.96 lei - 23%
Preț: 1780.53 lei - 27%
Preț: 1352.45 lei - 23%
Preț: 1853.15 lei - 27%
Preț: 782.25 lei - 23%
Preț: 751.26 lei - 27%
Preț: 1145.29 lei - 27%
Preț: 1041.88 lei - 27%
Preț: 889.24 lei - 27%
Preț: 1091.29 lei - 27%
Preț: 992.87 lei - 27%
Preț: 1145.42 lei - 27%
Preț: 993.01 lei - 27%
Preț: 891.49 lei - 27%
Preț: 1512.21 lei - 23%
Preț: 2284.99 lei - 23%
Preț: 940.41 lei - 9%
Preț: 1024.04 lei - 23%
Preț: 1388.73 lei - 23%
Preț: 1488.34 lei - 23%
Preț: 1265.57 lei - 27%
Preț: 1085.67 lei - 27%
Preț: 1082.87 lei
Preț: 1022.49 lei
Preț vechi: 1400.66 lei
-27%
Puncte Express: 1534
Indisponibil temporar
Doresc să fiu notificat când acest titlu va fi disponibil:
Se trimite...
Specificații
ISBN-13: 9783110940930
ISBN-10: 3110940930
Pagini: 132
Ilustrații: Num. figs.
Dimensiuni: 155 x 230 mm
Ediția:Reprint 2014
Editura: De Gruyter
Colecția De Gruyter
Seria Inverse and Ill-Posed Problems Series
Locul publicării:Berlin/Boston
ISBN-10: 3110940930
Pagini: 132
Ilustrații: Num. figs.
Dimensiuni: 155 x 230 mm
Ediția:Reprint 2014
Editura: De Gruyter
Colecția De Gruyter
Seria Inverse and Ill-Posed Problems Series
Locul publicării:Berlin/Boston
Notă biografică
Mikhail M. Lavrent'ev †; Sergei M. Zerkal, Sobolev Institute of Mathematics, Russian Academy of Sciences, Novosibirsk, Russia; Oleg E. Trofimov, Institute of Automation and Electrometry, Russian Academy of Sciences, Novosibirsk, Russia.