Scanning Microscopy: Symposium Proceedings: ESPRIT Basic Research Series
Editat de Rainer Kassingen Limba Engleză Paperback – 9 feb 2012
Preț: 612.23 lei
Preț vechi: 720.27 lei
-15%
Puncte Express: 918
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 28 iulie-11 august
Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit pentru acest produs Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
Specificații
ISBN-13: 9783642848124
ISBN-10: 3642848125
Pagini: 224
Ilustrații: X, 207 p.
Dimensiuni: 155 x 235 x 12 mm
Greutate: 0.32 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1992
Editura: Springer Berlin, Heidelberg
Colecția Springer
Seria ESPRIT Basic Research Series
Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany
ISBN-10: 3642848125
Pagini: 224
Ilustrații: X, 207 p.
Dimensiuni: 155 x 235 x 12 mm
Greutate: 0.32 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1992
Editura: Springer Berlin, Heidelberg
Colecția Springer
Seria ESPRIT Basic Research Series
Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany
Public țintă
ResearchCuprins
Performance and Selection Criteria of Critical Components of STM and AFM.- Investigations on the SFM — Tip to Substrate Interaction.- New Scanning Microscopy Techniques: Scanning Noise Microscopy — Scanning Tunneling Microscopy Assisted by Surface Plasmons.- An STM Study of the Oxygenation of Silicon.- Scanning Near Field Optical Microscopy.- Study of Epitaxial Growth by Combination of STM and LEED.- STM Studies of Adsorbates in the Monolayer Range: Ag/Ni(100) and O/Ni(100).- Molecular Imaging with the Scanning Tunneling Microscope.- Imaging of Magnetic Domains in Ferromagnets and Superconductors by Force and Tunneling Microscopy.- Acoustic Microscopy: Pictures to Ponder.- Real-Time Confocal Scanning Microscope — An Optical Instrument with a Better Depth Resolution.- On the Search for Last Frontiers —Scanning Tunneling Microscopy and Related Techniques (Abstract).- STM and AFM Extensions (Abstract).