Cantitate/Preț
Produs

Quadrupoles in Electron Lens Design: Advances in Imaging and Electron Physics, cartea 224

Editat de Martin Hÿtch, Peter W. Hawkes
en Limba Engleză Hardback – 21 noi 2022

Actualizarea adusă de Quadrupoles in Electron Lens Design în cadrul prestigioasei serii Advances in Imaging and Electron Physics marchează o rafinare a metodelor de calcul pentru optica particulelor încărcate. Față de volumele precedente care explorau fenomenele de interacțiune globală, această ediție se concentrează strict pe geometria și funcționalitatea cvadrupolilor în configurarea lentilelor electronice. Considerăm că această abordare specializată este esențială pentru optimizarea rezoluției în microscopia electronică modernă.

Structura volumului reflectă o progresie riguroasă, specifică stilului editorial al lui Peter W. Hawkes. Primele capitole stabilesc cadrul teoretic prin definiții și notații standardizate, urmate de o analiză detaliată a funcțiilor de potențial. Ulterior, volumul trece în zona aplicată, evaluând sistemele de cvadrupoli în funcție de adecvarea lor pentru sarcini specifice și oferind un set prețios de date tehnice brute. Complementar volumului Coulomb Interactions in Particle Beams de Guus Jansen, care analizează forțele de respingere dintre particule, lucrarea de față acoperă zona de proiectare structurală a componentelor optice, oferind soluții de design acolo unde celălalt se concentrează pe dinamica fasciculului.

În contextul operei sale vaste, acest titlu se situează între cercetările istorice din The Beginnings of Electron Microscopy - Part 2 și analizele instrumentale din Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part 2. Dacă lucrările anterioare documentau evoluția domeniului, Quadrupoles in Electron Lens Design funcționează ca un instrument de lucru actual, integrând metode de calcul numeric esențiale pentru ingineria de precizie în procesarea semnalelor și imagistică.

Citește tot Restrânge

Din seria Advances in Imaging and Electron Physics

Preț: 94394 lei

Preț vechi: 158222 lei
-40%

Puncte Express: 1416

Carte tipărită la comandă

Livrare economică 08-22 iunie


Specificații

ISBN-13: 9780323988650
ISBN-10: 0323988652
Pagini: 398
Dimensiuni: 152 x 229 mm
Greutate: 0.7 kg
Editura: ELSEVIER SCIENCE
Seria Advances in Imaging and Electron Physics


Public țintă

Physicists, electrical engineers and applied mathematicians in all branches of image processing and microscopy as well as electron physics in general

De ce să citești această carte

Recomandăm acest volum fizicienilor și inginerilor care proiectează instrumentar de înaltă precizie. Cititorul câștigă acces la o metodologie riguroasă de analiză a sistemelor de cvadrupoli, fundamentată pe date tehnice concrete și funcții de potențial validate. Este o resursă indispensabilă pentru înțelegerea modului în care designul lentilelor influențează calitatea imaginii în microscopia electronică, oferind claritate teoretică acolo unde alte tratate rămân la un nivel generalist.


Despre autor

Peter W. Hawkes este o figură centrală în fizica electronilor, fiind editorul de lungă durată al seriei Advances in Imaging and Electron Physics publicată de ELSEVIER SCIENCE. Expertiza sa acoperă o gamă vastă, de la istoria microscopiei electronice până la optica avansată a particulelor încărcate. Prin contribuțiile sale, Hawkes a reușit să unească domeniile opticii electronice cu procesarea digitală a imaginilor, facilitând o abordare interdisciplinară. În acest volum, el colaborează cu Martin Hÿtch, aducând decenii de rigoare academică în analiza componentelor de cvadrupol.


Descriere scurtă

Coulomb Interactions in Particle Beams, Volume 223 in the Advances in Imaging and Electron Physics series, merges two long-running serials, Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. The series features articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science, digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and computing methods used in all these domains, with this release exploring Coulomb Interactions in Particle Beams.

  • Provides the authority and expertise of leading contributors from an international board of authors
  • Presents the latest release in the Advances in Imaging and Electron Physics series
  • Updated release includes the latest information on Coulomb Interactions in Particle Beams

Cuprins

1. Introduction
Peter Hawkes
2. Definitions, notation, and methods of analysis
Peter Hawkes
3. Quadrupole potential functions
Peter Hawkes
4. Quadrupole systems: Their suitability for specific tasks
Peter Hawkes
5. Quadrupole data
Peter Hawkes