Principles of Electron Optics, Volume 3: Fundamental Wave Optics
Autor Peter W. Hawkes, Erwin Kasperen Limba Engleză Paperback – 18 feb 2022
În ingineria optic-electronică modernă, provocarea tehnică majoră constă în înțelegerea precisă a modului în care fasciculele de electroni interacționează cu solidele la nivel subatomic. Subliniem faptul că volumul al treilea din seria Principles of Electron Optics se concentrează pe optica ondulatorie, oferind un cadru teoretic riguros pentru propagarea electronilor de la sursă prin specimen până la planul imaginii. Putem afirma că această lucrare este esențială pentru specialiștii care doresc să stăpânească fenomenele de interferență și holografie, depășind limitele opticii geometrice clasice.
Structura volumului este organizată progresiv, începând cu bazele mecanicii ondulatorii — unde sunt analizate ecuația lui Schrödinger și ecuația de undă relativistă — și continuând cu aplicații complexe în interferometrie și holografie electronică. Merită menționat că autorii, Peter W. Hawkes și Erwin Kasper, dedică secțiuni ample teoriei formării imaginii în microscopia electronică cu scanare prin transmisie (STEM) și estimării parametrilor statistici, oferind o bază solidă pentru reconstrucția 3D și corectarea aberațiilor.
Cititorul care a aplicat deja conceptele din Particles and Waves in Electron Optics and Microscopy va găsi aici o aprofundare a formalismului matematic necesar pentru simulări avansate. În contextul operei lui Peter W. Hawkes, acest volum face trecerea de la designul lentilelor, abordat în Quadrupoles in Electron Lens Design, către aspectele fundamentale ale opticii cuantice aplicate. Spre deosebire de Introduction to Electron Holography, care pune accent pe tehnici de tip „how-to”, lucrarea de față se concentrează pe rigoarea teoriei transferului și a interacțiunilor electron-specimen, fiind un instrument indispensabil pentru cercetarea în fizica aplicată.
Preț: 1168.49 lei
Preț vechi: 1607.40 lei
-27%
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 01-15 iunie
Specificații
ISBN-10: 0128189797
Pagini: 558
Ilustrații: Approx. 150 illustrations
Dimensiuni: 191 x 235 x 32 mm
Greutate: 0.95 kg
Ediția:2
Editura: ELSEVIER SCIENCE
Public țintă
materials scientists and engineers, electronic engineers, applied physicists, electron microscopistsDe ce să citești această carte
Această lucrare se adresează inginerilor electroniști, fizicienilor și specialiștilor în microscopie care au nevoie de o fundamentare teoretică solidă în optica ondulatorie. Cititorul câștigă capacitatea de a interpreta fenomene complexe de interferență și holografie, esențiale pentru dezvoltarea tehnologiilor de imagistică de înaltă rezoluție. Este o resursă tehnică de referință care explică interacțiunea electronilor cu materia prin prisma mecanicii cuantice.
Despre autor
Peter W. Hawkes este un cercetător emerit în cadrul Centrului Național de Cercetare Științifică (CNRS) din Toulouse, Franța, fiind considerat unul dintre cei mai importanți teoreticieni în domeniul opticii electronice. Cariera sa este marcată de coordonarea unor serii prestigioase precum Advances in Imaging and Electron Physics și contribuții fundamentale în microscopia electronică. Împreună cu Erwin Kasper, a creat o serie de tratate de referință care definesc standardele academice în domeniu, îmbinând rigoarea matematică cu aplicațiile practice în ingineria materialelor și fizica dispozitivelor electronice.
Cuprins
54. Introduction
Part XI – Wave Mechanics 55. The Schrödinger Equation 56. The Relativistic Wave Equation 57. The Eikonal Approximation 58. Paraxial Wave Optics 59. The General Theory of Electron Diffraction and Interference 60. Elementary Diffraction Patterns
Part XII, Electron Interference and Electron Holography 61. General Introduction 62. Interferometry 63. Holography
Part XIII, Theory of Image Formation 64. General Introduction 65. Fundamentals of Transfer Theory 66. The Theory of Bright-field Imaging. 67. Image Formation in the Scanning Transmission Electron Microscope 68. Statistical Parameter Estimation Theory
Part XIV – Electron–specimen Interactions 69. Electron Interactions in Thin Specimens
Part XV – Digital Image Processing 70. Introduction 71. Acquisition, Sampling and Coding 72. Enhancement 73. Linear Restoration 74. Nonlinear Restoration – the Phase Problem 75. Three-dimensional Reconstruction 76. Image Analysis 77. Microscope Parameter Measurement and Instrument Control
Part XVI – Coherence, Brightness and Spectral Functions 78. Coherence and the Brightness Functions 79. Wigner Optics
PART XVII – Vortex Studies, the Quantum Electron Microscope 80. Orbital Angular Momentum, Vortex Beams and the Quantum Electron Microscope
Descriere
Principles of Electron Optic: Volume Three: Wave Optics, discusses this essential topic in microscopy to help readers understand the propagation of electrons from the source to the specimen, and through the latter (and from it) to the image plane of the instrument. In addition, it also explains interference phenomena, notably holography, and informal coherence theory. This third volume accompanies volumes one and two that cover new content on holography and interference, improved and new modes of image formation, aberration corrected imaging, simulation, and measurement, 3D-reconstruction, and more.
The study of such beams forms the subject of electron optics, which divides naturally into geometrical optics where effects due to wavelength are neglected, with wave optics considered.
- Includes authoritative coverage of the fundamental theory behind electron beams
- Describes the interaction of electrons with solids and the information that can be obtained from electron-beam techniques
- Addresses recent, relevant research topics, including new content on holography and interference, new modes of image formation, 3D reconstruction and aberration corrected imaging, simulation and measurement