Material Characterization Using Ion Beams: NATO Science Series B:, cartea 28
Editat de J. Thomasen Limba Engleză Paperback – 25 noi 2012
Din seria NATO Science Series B:
- 5%
Preț: 1356.03 lei - 5%
Preț: 355.43 lei - 5%
Preț: 1070.41 lei - 5%
Preț: 1382.39 lei - 5%
Preț: 1063.39 lei - 5%
Preț: 1074.07 lei -
Preț: 369.36 lei - 5%
Preț: 1388.77 lei - 5%
Preț: 695.30 lei - 5%
Preț: 1060.90 lei - 5%
Preț: 1373.11 lei - 5%
Preț: 1055.83 lei - 5%
Preț: 696.72 lei - 5%
Preț: 1359.58 lei - 5%
Preț: 699.37 lei - 5%
Preț: 373.37 lei - 5%
Preț: 1061.59 lei - 5%
Preț: 690.73 lei - 5%
Preț: 1064.77 lei - 5%
Preț: 1247.52 lei - 5%
Preț: 1072.86 lei - 5%
Preț: 1064.77 lei - 5%
Preț: 359.15 lei - 15%
Preț: 619.75 lei - 5%
Preț: 693.55 lei - 5%
Preț: 1359.06 lei - 5%
Preț: 2054.22 lei - 5%
Preț: 684.26 lei - 5%
Preț: 1066.18 lei - 18%
Preț: 1351.25 lei - 18%
Preț: 920.28 lei - 5%
Preț: 1044.18 lei - 5%
Preț: 361.44 lei - 5%
Preț: 695.84 lei -
Preț: 376.90 lei - 5%
Preț: 1368.16 lei - 5%
Preț: 352.64 lei - 5%
Preț: 1065.68 lei - 5%
Preț: 355.28 lei - 5%
Preț: 693.02 lei - 5%
Preț: 1080.23 lei - 5%
Preț: 690.92 lei - 5%
Preț: 688.09 lei - 5%
Preț: 1926.32 lei
Preț: 390.81 lei
Nou
Puncte Express: 586
Preț estimativ în valută:
69.17€ • 81.11$ • 60.64£
69.17€ • 81.11$ • 60.64£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 26 ianuarie-09 februarie 26
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9781468408584
ISBN-10: 1468408585
Pagini: 536
Ilustrații: XVIII, 517 p. 79 illus.
Greutate: 0.84 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1978
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Seria NATO Science Series B:
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 1468408585
Pagini: 536
Ilustrații: XVIII, 517 p. 79 illus.
Greutate: 0.84 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1978
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Seria NATO Science Series B:
Locul publicării:New York, NY, United States
Public țintă
ResearchCuprins
I Ion Beams: Production and Interaction with Matter.- Energy Loss of Charged Particles.- Some General Considerations of Ion Beam Production and Manipulation.- II Surface Studies: keV Range Ions.- Applications of Low-Energy Ion Scattering.- Ion Beam Induced Light Emission: Mechanisms and Analytical Applications.- Complementary Analysis Techniques: AES, ESCA.- III In-Depth Analysis.- Fundamental Aspects of Ion Microanalysis.- Ion Induced X-rays: General Description.- The Evolving Use of Electrons, Protons and Heavy Ions in the Characterisation of Materials.- Backscattering of Ions With Intermediate Energies.- Backscattering Analysis With MeV 4He Ions.- Microanalysis by Direct Observation of Nuclear Reactions.- IV Solid State Studies Using Channeling Effects.- Channeling: General Description.- Flux Peaking — Lattice Location.- Analysis of Defects by Channeling.- Application of MeV Ion Channeling to Surface Studies.- General Conclusions.- General Conclusions.- Participants.