Material Characterization Using Ion Beams: NATO Science Series B:, cartea 28
Editat de J. Thomasen Limba Engleză Paperback – 25 noi 2012
Din seria NATO Science Series B:
- 5%
Preț: 373.37 lei - 5%
Preț: 1056.69 lei - 5%
Preț: 1247.52 lei - 5%
Preț: 1364.78 lei - 5%
Preț: 1055.83 lei - 5%
Preț: 1061.59 lei - 5%
Preț: 690.73 lei - 5%
Preț: 352.78 lei - 5%
Preț: 688.09 lei - 5%
Preț: 1382.39 lei - 5%
Preț: 1926.32 lei - 5%
Preț: 1074.07 lei - 5%
Preț: 1360.95 lei - 5%
Preț: 699.37 lei -
Preț: 371.97 lei - 5%
Preț: 1070.41 lei - 5%
Preț: 358.16 lei - 5%
Preț: 1060.90 lei - 5%
Preț: 379.31 lei - 5%
Preț: 1063.39 lei - 5%
Preț: 359.15 lei - 5%
Preț: 1064.77 lei - 5%
Preț: 1359.06 lei - 5%
Preț: 2054.22 lei - 5%
Preț: 684.26 lei - 5%
Preț: 693.55 lei - 18%
Preț: 924.26 lei - 18%
Preț: 1351.25 lei - 5%
Preț: 1066.18 lei - 5%
Preț: 715.95 lei - 5%
Preț: 695.84 lei - 5%
Preț: 363.21 lei - 5%
Preț: 1044.18 lei - 5%
Preț: 1368.16 lei -
Preț: 380.04 lei - 5%
Preț: 355.17 lei - 5%
Preț: 693.02 lei - 5%
Preț: 358.01 lei - 5%
Preț: 1065.68 lei - 5%
Preț: 366.17 lei - 5%
Preț: 1077.74 lei - 5%
Preț: 1069.20 lei - 5%
Preț: 1086.52 lei - 5%
Preț: 690.92 lei - 5%
Preț: 717.50 lei - 5%
Preț: 1373.11 lei
Preț: 390.81 lei
Puncte Express: 586
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 08-22 august
Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit de la 400.00 lei Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
Specificații
ISBN-13: 9781468408584
ISBN-10: 1468408585
Pagini: 536
Ilustrații: XVIII, 517 p. 79 illus.
Greutate: 0.84 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1978
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Seria NATO Science Series B:
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 1468408585
Pagini: 536
Ilustrații: XVIII, 517 p. 79 illus.
Greutate: 0.84 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1978
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Seria NATO Science Series B:
Locul publicării:New York, NY, United States
Public țintă
ResearchCuprins
I Ion Beams: Production and Interaction with Matter.- Energy Loss of Charged Particles.- Some General Considerations of Ion Beam Production and Manipulation.- II Surface Studies: keV Range Ions.- Applications of Low-Energy Ion Scattering.- Ion Beam Induced Light Emission: Mechanisms and Analytical Applications.- Complementary Analysis Techniques: AES, ESCA.- III In-Depth Analysis.- Fundamental Aspects of Ion Microanalysis.- Ion Induced X-rays: General Description.- The Evolving Use of Electrons, Protons and Heavy Ions in the Characterisation of Materials.- Backscattering of Ions With Intermediate Energies.- Backscattering Analysis With MeV 4He Ions.- Microanalysis by Direct Observation of Nuclear Reactions.- IV Solid State Studies Using Channeling Effects.- Channeling: General Description.- Flux Peaking — Lattice Location.- Analysis of Defects by Channeling.- Application of MeV Ion Channeling to Surface Studies.- General Conclusions.- General Conclusions.- Participants.