Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis: Methods of Surface Characterization, cartea 5
Editat de Alvin W. Czanderna, Theodore E. Madey, Cedric J. Powellen Limba Engleză Hardback – 31 oct 1998
| Toate formatele și edițiile | Preț | Express |
|---|---|---|
| Paperback (1) | 914.83 lei 6-8 săpt. | |
| Springer Us – 6 dec 2010 | 914.83 lei 6-8 săpt. | |
| Hardback (1) | 921.04 lei 6-8 săpt. | |
| Springer Us – 31 oct 1998 | 921.04 lei 6-8 săpt. |
Preț: 921.04 lei
Preț vechi: 1123.22 lei
-18% Nou
Puncte Express: 1382
Preț estimativ în valută:
162.96€ • 189.85$ • 142.30£
162.96€ • 189.85$ • 142.30£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 19 ianuarie-02 februarie 26
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9780306458965
ISBN-10: 0306458969
Pagini: 430
Ilustrații: XX, 430 p.
Dimensiuni: 156 x 234 x 25 mm
Greutate: 0.81 kg
Ediția:2002
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Seria Methods of Surface Characterization
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 0306458969
Pagini: 430
Ilustrații: XX, 430 p.
Dimensiuni: 156 x 234 x 25 mm
Greutate: 0.81 kg
Ediția:2002
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Seria Methods of Surface Characterization
Locul publicării:New York, NY, United States
Public țintă
ResearchCuprins
Photon Beam Damage and Charging at Solid Surfaces.- Electron Beam Damage at Solid Surfaces.- Ion Beam Bombardment Effects on Solid Surfaces at Energies Used for Sputter Depth Profiling.- Characterization of Surface Topography.- Depth Profiling Using Sputtering Methods.