Cantitate/Preț
Produs

Nanometer–scale Defect Detection Using Polarized Light

Autor PR Dahoo
en Limba Engleză Hardback – 11 aug 2016
This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.
Citește tot Restrânge

Preț: 94631 lei

Preț vechi: 103990 lei
-9% Nou

Puncte Express: 1419

Preț estimativ în valută:
16745 19662$ 14698£

Carte tipărită la comandă

Livrare economică 28 ianuarie-11 februarie 26

Preluare comenzi: 021 569.72.76

Specificații

ISBN-13: 9781848219366
ISBN-10: 1848219369
Pagini: 316
Dimensiuni: 167 x 241 x 24 mm
Greutate: 0.62 kg
Editura: ISTE Ltd.
Locul publicării:Hoboken, United States

Notă biografică