Cantitate/Preț
Produs

Nanometer–scale Defect Detection Using Polarized Light

Autor PR Dahoo
en Limba Engleză Hardback – 12 aug 2016
This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.
Citește tot Restrânge

Preț: 71625 lei

Preț vechi: 109211 lei
-34%

Puncte Express: 1074

Preț estimativ în valută:
13722 14898$ 11768£

Carte indisponibilă temporar

Doresc să fiu notificat când acest titlu va fi disponibil:

Preluare comenzi: 021 569.72.76

Specificații

ISBN-13: 9781848219366
ISBN-10: 1848219369
Pagini: 316
Dimensiuni: 167 x 241 x 24 mm
Greutate: 0.62 kg
Editura: ISTE Ltd.
Locul publicării:Hoboken, United States

Notă biografică