Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis: Methods of Surface Characterization, cartea 5
Editat de Alvin W. Czanderna, Theodore E. Madey, Cedric J. Powellen Limba Engleză Paperback – 6 dec 2010
Preț: 914.83 lei
Preț vechi: 1115.64 lei
-18%
Puncte Express: 1372
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 12-26 august
Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit pentru acest produs Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
Specificații
ISBN-13: 9781441932990
ISBN-10: 1441932992
Pagini: 456
Ilustrații: XX, 430 p.
Dimensiuni: 152 x 229 x 24 mm
Greutate: 0.63 kg
Ediția:2002
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Seria Methods of Surface Characterization
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 1441932992
Pagini: 456
Ilustrații: XX, 430 p.
Dimensiuni: 152 x 229 x 24 mm
Greutate: 0.63 kg
Ediția:2002
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Seria Methods of Surface Characterization
Locul publicării:New York, NY, United States
Public țintă
ResearchCuprins
Photon Beam Damage and Charging at Solid Surfaces.- Electron Beam Damage at Solid Surfaces.- Ion Beam Bombardment Effects on Solid Surfaces at Energies Used for Sputter Depth Profiling.- Characterization of Surface Topography.- Depth Profiling Using Sputtering Methods.