Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis: Methods of Surface Characterization, cartea 5
Editat de Alvin W. Czanderna, Theodore E. Madey, Cedric J. Powellen Limba Engleză Paperback – 6 dec 2010
Preț: 914.83 lei
Preț vechi: 1115.64 lei
-18%
Puncte Express: 1372
Preț estimativ în valută:
161.78€ • 190.74$ • 140.33£
161.78€ • 190.74$ • 140.33£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 21 martie-04 aprilie
Specificații
ISBN-13: 9781441932990
ISBN-10: 1441932992
Pagini: 456
Ilustrații: XX, 430 p.
Dimensiuni: 152 x 229 x 24 mm
Greutate: 0.63 kg
Ediția:2002
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Seria Methods of Surface Characterization
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 1441932992
Pagini: 456
Ilustrații: XX, 430 p.
Dimensiuni: 152 x 229 x 24 mm
Greutate: 0.63 kg
Ediția:2002
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Seria Methods of Surface Characterization
Locul publicării:New York, NY, United States
Public țintă
ResearchCuprins
Photon Beam Damage and Charging at Solid Surfaces.- Electron Beam Damage at Solid Surfaces.- Ion Beam Bombardment Effects on Solid Surfaces at Energies Used for Sputter Depth Profiling.- Characterization of Surface Topography.- Depth Profiling Using Sputtering Methods.