Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light
Autor Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hamien Limba Engleză Hardback – 22 aug 2016
Preț: 950.94 lei
Preț vechi: 1044.99 lei
-9%
Puncte Express: 1426
Preț estimativ în valută:
168.03€ • 193.68$ • 146.70£
168.03€ • 193.68$ • 146.70£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 16-30 mai
Specificații
ISBN-13: 9781848219366
ISBN-10: 1848219369
Pagini: 320
Dimensiuni: 161 x 240 x 22 mm
Greutate: 0.64 kg
Ediția:1
Editura: Wiley
Locul publicării:Hoboken, United States
ISBN-10: 1848219369
Pagini: 320
Dimensiuni: 161 x 240 x 22 mm
Greutate: 0.64 kg
Ediția:1
Editura: Wiley
Locul publicării:Hoboken, United States