Cantitate/Preț
Produs
Total produse
Vezi coșul
X-Ray Spectroscopy: An Introduction de Bipin K. Agarwal

X-Ray Spectroscopy: An Introduction: Springer Series in Optical Sciences, cartea 15

Autor Bipin K. Agarwal
en Limba Engleză Paperback – 10 oct 1991

Din seria Springer Series in Optical Sciences

Preț: 38134 lei

Puncte Express: 572

Carte tipărită la comandă

Livrare economică 05-19 august

Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit de la 40000 lei Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
 Adaugă în coș

Wish list
Gift list
Am citit!
Adaugă în listă

Specificații

ISBN-13: 9783540507192
ISBN-10: 3540507191
Pagini: 440
Ilustrații: XV, 421 p. 18 illus.
Dimensiuni: 155 x 235 x 23 mm
Greutate: 0.61 kg
Ediția:2nd ed.
Editura: Springer Berlin, Heidelberg
Colecția Springer
Seria Springer Series in Optical Sciences

Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany

Public țintă

Lower undergraduate

Cuprins

Content.- 1. Continuous X-Rays.- 2. Characteristic X-Rays.- 3. Interaction of X-Rays with Matter.- 4. Secondary Spectra and Satellites.- 5. Scattering of X-Rays.- 6. Chemical Shifts in Emission Spectra.- 7. Absorption Spectra.- 8. Soft X-Ray Spectroscopy.- 9. Experimental Methods.- Appendix A Rutherford Scattering for an Attractive Field.- A.1 Equation of Hyperbola.- A.2 Rutherford Scattering.- Appendix B Bohr’s Formula for Energy Loss.- Appendix C X-Ray Atomic Energy Levels.- Appendix D Electron Distribution Among the Levels of Free Atoms.- Appendix E Curves Representing Values of Electron Energies.- Appendix F Dipole Sum Rule.- Appendix G Screening Effect, According to Slater.- Appendix H Electronegativity Scale.- Appendix I Common Analyzing Crystals.- Appendix J Wavelength Tables.- References.- Author Index.