Sputtering by Particle Bombardment I: Topics in Applied Physics, cartea 47
Editat de R. Behrischen Limba Engleză Paperback – 23 aug 2014
Din seria Topics in Applied Physics
-
Preț: 441.41 lei - 18%
Preț: 1451.26 lei - 18%
Preț: 1616.16 lei - 18%
Preț: 811.18 lei - 18%
Preț: 757.32 lei - 18%
Preț: 994.15 lei -
Preț: 374.14 lei -
Preț: 376.01 lei - 18%
Preț: 1274.48 lei - 18%
Preț: 1266.75 lei - 18%
Preț: 1332.30 lei - 18%
Preț: 2172.92 lei - 18%
Preț: 1173.85 lei - 18%
Preț: 2178.74 lei - 18%
Preț: 992.70 lei - 18%
Preț: 1226.32 lei - 18%
Preț: 1179.46 lei - 18%
Preț: 1275.29 lei - 18%
Preț: 1392.78 lei -
Preț: 380.82 lei - 18%
Preț: 1900.83 lei - 18%
Preț: 1200.83 lei - 18%
Preț: 1901.05 lei - 24%
Preț: 1333.29 lei - 18%
Preț: 1002.84 lei - 18%
Preț: 947.55 lei - 18%
Preț: 953.50 lei - 18%
Preț: 1180.74 lei - 18%
Preț: 938.80 lei - 18%
Preț: 915.07 lei -
Preț: 379.88 lei - 18%
Preț: 1166.99 lei
Preț: 376.51 lei
Puncte Express: 565
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 09-23 decembrie
Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit de la 400.00 lei Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
Specificații
ISBN-13: 9783662308882
ISBN-10: 3662308886
Pagini: 300
Ilustrații: XI, 284 p. 19 illus.
Dimensiuni: 155 x 235 x 17 mm
Greutate: 0.46 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st edition 1981
Editura: Springer
Colecția Topics in Applied Physics
Seria Topics in Applied Physics
Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany
ISBN-10: 3662308886
Pagini: 300
Ilustrații: XI, 284 p. 19 illus.
Dimensiuni: 155 x 235 x 17 mm
Greutate: 0.46 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st edition 1981
Editura: Springer
Colecția Topics in Applied Physics
Seria Topics in Applied Physics
Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany
Public țintă
ResearchCuprins
and overview.- Sputtering by ion bombardment theoretical concepts.- Theoretical aspects of monocrystal sputtering.- Sputtering yield measurements.- Sputtering yields of single crystalline targets.