Solid State Imaging: NATO Science Series E:, cartea 16
Editat de P. Jespers, F. van de Wiele, M.H. Whiteen Limba Engleză Paperback – 9 noi 2011
Din seria NATO Science Series E:
- 24%
Preț: 1712.87 lei - 15%
Preț: 566.67 lei - 15%
Preț: 572.94 lei - 15%
Preț: 571.73 lei - 15%
Preț: 578.92 lei - 15%
Preț: 578.70 lei - 15%
Preț: 568.69 lei - 15%
Preț: 578.42 lei - 15%
Preț: 583.95 lei -
Preț: 382.65 lei -
Preț: 372.15 lei - 20%
Preț: 333.06 lei -
Preț: 408.17 lei - 18%
Preț: 1176.56 lei - 18%
Preț: 1764.96 lei - 18%
Preț: 1181.44 lei -
Preț: 366.56 lei -
Preț: 393.75 lei - 18%
Preț: 1769.50 lei - 5%
Preț: 353.34 lei -
Preț: 391.71 lei - 18%
Preț: 1766.62 lei -
Preț: 404.30 lei -
Preț: 384.13 lei -
Preț: 383.59 lei - 18%
Preț: 2907.74 lei -
Preț: 374.14 lei - 5%
Preț: 376.18 lei - 18%
Preț: 1180.81 lei - 18%
Preț: 1181.87 lei - 18%
Preț: 1186.41 lei - 5%
Preț: 3393.87 lei - 18%
Preț: 1768.29 lei - 5%
Preț: 364.41 lei - 18%
Preț: 1180.06 lei -
Preț: 377.84 lei -
Preț: 380.62 lei - 18%
Preț: 2392.01 lei - 5%
Preț: 1373.66 lei -
Preț: 380.99 lei
Preț: 398.55 lei
Nou
Puncte Express: 598
Preț estimativ în valută:
70.54€ • 82.72$ • 61.85£
70.54€ • 82.72$ • 61.85£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 26 ianuarie-09 februarie 26
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9789401015363
ISBN-10: 9401015368
Pagini: 752
Ilustrații: 745 p. 57 illus.
Dimensiuni: 155 x 235 x 39 mm
Greutate: 1.03 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1976
Editura: SPRINGER NETHERLANDS
Colecția Springer
Seria NATO Science Series E:
Locul publicării:Dordrecht, Netherlands
ISBN-10: 9401015368
Pagini: 752
Ilustrații: 745 p. 57 illus.
Dimensiuni: 155 x 235 x 39 mm
Greutate: 1.03 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1976
Editura: SPRINGER NETHERLANDS
Colecția Springer
Seria NATO Science Series E:
Locul publicării:Dordrecht, Netherlands
Public țintă
ResearchCuprins
Section I: Introduction.- History of Solid-State Imaging.- Solid-State Imaging Applications.- Section II: Physics of Photosensors.- Anti-reflection Films and Multilayer Structures.- Photodiode Quantum Efficiency.- Bulk Trapping.- Surface Trapping.- Section III: Diode and Transistor Arrays.- Charge Storage Operation of Silicon Photodetectors.- XY Addressing.- Photodiode Sensor Arrays.- Phototransistor Arrays.- Section IV: CTD Arrays.- Charge Integration and Storage in MOS Photosensors.- to Charge-Coupled Devices.- Organization of Charge-Coupled Image Sensors.- Charge Transport without Traps.- Charge Transport with Traps.- Image Sensors Using Surface Channel Charge-Coupled Devices.- Buried Channel CCD’s.- Peristaltic Charge-Coupled Devices.- Electrical Charge Injection into CCD’s.- Section V: CID Arrays.- Charge-Injection Devices for Solid State Imaging.- Three-Terminal Charge-Injection Device.- Section VI: Signal Extraction.- Design of Solid-State Imaging Arrays.- Interlacing in Solid-State Image Sensors.- Amplifier and Amplifier Noise Considerations.- Principles of Low-Noise Signal Extraction from Photodiode Arrays.- Distributed Floating Gate Amplifier.- Fixed Pattern Noise and Cooled Photosensor Arrays.- Section VII: Systems.- Aliasing and MTF Effects in Photosensor Arrays.- Signal and Noise in the Display of Images.- Time Delay and Integration Image Sensors.- Solid State Infrared Imaging.- Low Light Level Performance of Charge-Coupled Area Imaging Devices.- Comparison of Solid-State Imagers and Electron Beam Scanning Imagers.- List of Participants.