Single Event Phenomena
Autor G.C. Messenger, Milton Ashen Limba Engleză Hardback – 30 iun 1997
Preț: 1178.09 lei
Preț vechi: 1436.70 lei
-18%
Puncte Express: 1767
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 09-23 iulie
Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit pentru acest produs Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
Specificații
ISBN-13: 9780412097317
ISBN-10: 0412097311
Pagini: 351
Ilustrații: XVII, 351 p.
Dimensiuni: 152 x 229 x 24 mm
Greutate: 0.68 kg
Ediția:1997
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 0412097311
Pagini: 351
Ilustrații: XVII, 351 p.
Dimensiuni: 152 x 229 x 24 mm
Greutate: 0.68 kg
Ediția:1997
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Locul publicării:New York, NY, United States
Public țintă
ResearchCuprins
1 Preliminaries.- 1.1 Introduction.- 1.2 Fluence, Flux, and Current Density.- 1.3 Cross Sections.- 1.4 Chord Distribution Functions.- Problems.- References.- 2 Extraterrestrial SEU-Inducing Particles.- 2.1 Introduction.- 2.2 Cosmic Rays.- 2.3 Other Cosmic Ray Particles.- 2.4 Alpha Particles.- 2.5 Solar Flares.- 2.6 Van Allen Radiation Belts.- Problems.- References.- 3 Particle Penetration and Energy Deposition.- 3.1 Introduction.- 3.2 Particle Penetration in Materials.- 3.3 Range.- 3.4 Ionization Loss.- 3.5 Bremsstrahlung Loss.- 3.6 Pair Production, Cosmic Ray Showers.- 3.7 LET Introduction.- 3.8 LET Spectra (Heinrich) Curve.- 3.9 Linear Energy Transfer (LET) Applicability.- Problems.- References.- 4 Single Event Upset: Experimental.- 4.1 Introduction.- 4.2 Heavy-Ion Accelerators.- 4.3 Critical LET, Critical Charge.- 4.4 Californum-252 Sources.- 4.5 Lasers.- Problems.- References.- 5 Single Event Upset Error Rates.- 5.1 Introduction.- 5.2 Geosynchronous SEU.- 5.3 Proton-Induced SEU.- 5.4 Neutron-Induced SEU.- 5.5 Alpha-Particle-Induced SEU.- 5.6 Ground-Level SEU.- Problems.- References.- 6 Single Event Phenomena I.- 6.1 Introduction.- 6.2 Funneling.- 6.3 Track Transport.- 6.4 SEU Cross-Section Morphology.- 6.5 Device SEU Scaling.- 6.6 Single Event Latchup.- 6.7 South Atlantic Anomaly, Low Earth Orbits.- 6.8 Single Event Gate Rupture, Device SEU Burnout.- Problems.- References.- 7 Single Event Phenomena II.- 7.1 Introduction.- 7.2 Multiple Event Upsets.- 7.3 Ionizing Dose Effects.- 7.4 Redundancy, Scrubbing.- 7.5 Error Detection and Correction.- 7.6 SEU Shielding.- 7.7 Radiation Sensors and Detectors.- Problems.- References.- 8 Single Event Upset Practice.- 8.1 Introduction.- 8.2 Geosynchronous SEU Error Rate Computations.- 8.3 Proton-Induced SEU II.- 8.4 Neutron-InducedSEU II.- 8.5 Single Event Latchup II.- 8.6 Single Event Burnout II.- 8.7 Guidelines.- Glossary for Tables 8.13–8.17.- Appendices 8.1–8.3.- Problems.- References.