Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Autor AW Strongen Limba Engleză Hardback – 4 sep 2009
Preț: 853.31 lei
Preț vechi: 1290.50 lei
-34%
Puncte Express: 1280
Preț estimativ în valută:
163.48€ • 177.08$ • 140.20£
163.48€ • 177.08$ • 140.20£
Carte indisponibilă temporar
Doresc să fiu notificat când acest titlu va fi disponibil:
Se trimite...
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9780471731726
ISBN-10: 0471731722
Pagini: 640
Dimensiuni: 156 x 234 x 35 mm
Greutate: 0.98 kg
Editura: Wiley
Locul publicării:Hoboken, United States
ISBN-10: 0471731722
Pagini: 640
Dimensiuni: 156 x 234 x 35 mm
Greutate: 0.98 kg
Editura: Wiley
Locul publicării:Hoboken, United States
Public țintă
Advanced undergraduate and graduate students, professionals and design engineersNotă biografică
Cuprins
Descriere
This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology, it assumes no reliability education or experience.