Point Defects in Semiconductors II: Springer Series in Solid-State Sciences, cartea 35
Autor J. Bourgoinen Limba Engleză Paperback – 8 dec 2011
Din seria Springer Series in Solid-State Sciences
- 18%
Preț: 978.08 lei - 18%
Preț: 961.75 lei - 18%
Preț: 865.62 lei - 18%
Preț: 975.19 lei - 18%
Preț: 974.37 lei - 18%
Preț: 1208.55 lei - 18%
Preț: 918.75 lei - 18%
Preț: 925.97 lei -
Preț: 373.90 lei - 18%
Preț: 1832.67 lei - 15%
Preț: 666.07 lei -
Preț: 378.19 lei - 15%
Preț: 642.81 lei - 15%
Preț: 637.96 lei - 18%
Preț: 900.69 lei - 15%
Preț: 651.89 lei - 15%
Preț: 655.47 lei - 18%
Preț: 894.17 lei - 15%
Preț: 643.87 lei - 15%
Preț: 653.58 lei - 15%
Preț: 649.35 lei - 15%
Preț: 647.87 lei - 15%
Preț: 658.03 lei - 18%
Preț: 961.62 lei - 15%
Preț: 640.73 lei - 23%
Preț: 1140.33 lei - 15%
Preț: 642.16 lei - 15%
Preț: 652.10 lei - 15%
Preț: 640.49 lei - 15%
Preț: 643.25 lei -
Preț: 379.62 lei -
Preț: 385.99 lei -
Preț: 376.01 lei - 15%
Preț: 641.76 lei - 18%
Preț: 966.98 lei - 18%
Preț: 706.78 lei - 15%
Preț: 643.63 lei - 15%
Preț: 626.68 lei - 18%
Preț: 1183.12 lei - 18%
Preț: 1232.49 lei - 18%
Preț: 957.20 lei - 15%
Preț: 615.84 lei
Preț: 644.90 lei
Preț vechi: 758.71 lei
-15%
Puncte Express: 967
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 27 august-10 septembrie
Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit pentru acest produs Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
Specificații
ISBN-13: 9783642818349
ISBN-10: 364281834X
Pagini: 320
Ilustrații: XVI, 295 p.
Dimensiuni: 155 x 235 x 18 mm
Greutate: 0.49 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1983
Editura: Springer
Colecția Springer Series in Solid-State Sciences
Seria Springer Series in Solid-State Sciences
Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany
ISBN-10: 364281834X
Pagini: 320
Ilustrații: XVI, 295 p.
Dimensiuni: 155 x 235 x 18 mm
Greutate: 0.49 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1983
Editura: Springer
Colecția Springer Series in Solid-State Sciences
Seria Springer Series in Solid-State Sciences
Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany
Public țintă
ResearchCuprins
1. Introduction.- 2. Lattice Distortion and the Jahn-Teller Effect.- 2.1 The Electron-Phonon Interaction.- 2.2 Symmetry Considerations: The Stable Atomic Configurations.- 2.3 Coupled Electronic and Nuclear Motion: Vibronic States — Static and Dynamic Jahn-Teller Limits.- 2.4 The Vacancy in Silicon.- 3. Electron Paramagnetic Resonance.- 3.1 The Hamiltonian.- 3.2 Electronic Zeeman Interaction.- 3.3 Spin Orbit Coubling.- 3.4 Hyperfine Interaction.- 3.5 Nuclear Zeeman Interaction — Double Resonance.- 3.6 Spin-Spin Interaction. Fine Structure.- 3.7 EPR of Impurities and Vacancy — Impurity Pairs in Silicon.- 3.8 The Vacancy in Silicon.- 4. Optical Properties.- 4.1 Transition Probability.- 4.2 The Configuration Coordinate Diagram.- 4.3 Optical Line Shape and the Electron-Lattice Interaction.- 4.4 Optical Cross Section.- 4.5 An Example. The GR Absorption Band in Diamond.- 5. Electrical Properties.- 5.1 Carrier Distribution Between Bands and Defect Levels.- 5.2 Conduction in Case of Defect Interaction.- 5.3 Carrier Scattering.- 6. Carrier Emission and Recombination.- 6.1 Emission and Capture Rates.- 6.2 Experimental Observation of Emission Rates.- 6.3 Nonradiative Recombination Processes.- 6.4 Experimental Determination of Ionization Energies, Entropies and Cross Sections.- 6.5 Influence of the Electric Field on Emission Rates.- 7. Other Methods of Detection.- 7.1 Photoexcitation.- 7.2 Optical Detection of Paramagnetic Resonance.- 7.3 Direct Detection of Phonons.- 8. Defect Production by Irradiation.- 8.1 Interaction of Radiation with Solids.- 8.2 Defect Production.- 8.3 Defect Nature and Spatial Distribution.- 8.4 Experimental Determination of a Threshold Energy.- 8.5 Subthreshold Effects.- 9. Defect Annealing.- 9.1 Annealing Kinetics.- 9.2 Determination of the AnnealingParameters.- 9.3 Annealing of Defects Induced by Electron Irradiation.- References.