Physics of Thin Films
Autor Ludmila Eckertováen Limba Engleză Paperback – 6 apr 2012
Preț: 373.40 lei
Puncte Express: 560
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 15-29 septembrie
Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit de la 400.00 lei Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
Specificații
ISBN-13: 9781461575917
ISBN-10: 1461575915
Pagini: 260
Ilustrații: 254 p.
Dimensiuni: 152 x 229 x 15 mm
Greutate: 0.38 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1977
Editura: Springer
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 1461575915
Pagini: 260
Ilustrații: 254 p.
Dimensiuni: 152 x 229 x 15 mm
Greutate: 0.38 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1977
Editura: Springer
Locul publicării:New York, NY, United States
Public țintă
ResearchCuprins
1. Introduction.- 2. Methods of Preparation of Thin Films.- 2.1 Chemical and Electrochemical Methods.- 2.2 Cathode Sputtering.- 2.3 Vacuum Evaporation.- 3. Thin Film Thickness and Deposition Rate Measurement Methods.- 3.1 Balance Methods.- 3.2 Electrical Methods.- 3.3 Optical Methods.- 3.4 Deposition Rate Monitoring Using Transfer of Momentum.- 3.5 Special Thickness Monitoring Methods.- 4. Mechanism of Film Formation.- 4.1 Formation Stages of Thin Films.- 4.2 Nucleation.- 4.3 Growth and Coalescence of Islands.- 4.4 Influence of Various Factors on Final Structure of Film.- 4.5 Crystallographic Structure of Thin Films.- 4.6 Epitaxial Films.- 5. Composition, Morphology and Structure of Thin Films.- 5.1 Methods for Determination of Chemical Composition of Films.- 5.2 Electron Microscopy of Thin Films.- 5.3 Diffraction of Electrons.- 5.4 X-ray Methods.- 5.5 Auger Spectroscopy.- 6. Properties of Thin Films.- 6.1 Mechanical Properties.- 6.2 Electrical and Magnetic Properties of Thin Films.- 6.3 Optical Properties of Thin Films.- 7. Application of This Films.- 7.1 Optical Applications.- 7.2 Applications in Electronics.- References.