Inelastic Scattering of X-Rays with Very High Energy Resolution: Springer Tracts in Modern Physics, cartea 125
Autor Eberhard Burkelen Limba Engleză Paperback – 3 oct 2013
Din seria Springer Tracts in Modern Physics
- 18%
Preț: 880.96 lei - 15%
Preț: 620.07 lei - 18%
Preț: 1176.11 lei - 24%
Preț: 1132.78 lei - 18%
Preț: 1172.17 lei - 15%
Preț: 623.39 lei - 18%
Preț: 852.95 lei - 18%
Preț: 918.17 lei - 18%
Preț: 755.13 lei - 18%
Preț: 969.02 lei -
Preț: 394.05 lei -
Preț: 411.99 lei -
Preț: 410.11 lei -
Preț: 372.67 lei -
Preț: 373.88 lei -
Preț: 366.76 lei -
Preț: 364.35 lei -
Preț: 368.43 lei -
Preț: 369.90 lei -
Preț: 367.85 lei -
Preț: 372.67 lei -
Preț: 376.55 lei -
Preț: 366.19 lei -
Preț: 371.37 lei - 18%
Preț: 849.77 lei -
Preț: 371.37 lei -
Preț: 370.62 lei -
Preț: 369.16 lei -
Preț: 363.61 lei -
Preț: 362.88 lei -
Preț: 363.61 lei -
Preț: 370.10 lei -
Preț: 367.49 lei -
Preț: 376.75 lei -
Preț: 365.29 lei -
Preț: 370.10 lei -
Preț: 376.55 lei -
Preț: 365.82 lei -
Preț: 363.06 lei -
Preț: 368.05 lei -
Preț: 369.74 lei -
Preț: 366.76 lei -
Preț: 373.24 lei -
Preț: 366.95 lei -
Preț: 369.90 lei -
Preț: 371.57 lei
Preț: 364.56 lei
Nou
Puncte Express: 547
Preț estimativ în valută:
64.53€ • 75.22$ • 56.43£
64.53€ • 75.22$ • 56.43£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 20 ianuarie-03 februarie 26
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9783662150092
ISBN-10: 3662150093
Pagini: 136
Ilustrații: XV, 114 p.
Dimensiuni: 155 x 235 x 7 mm
Greutate: 0.2 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1991
Editura: Springer Berlin, Heidelberg
Colecția Springer
Seria Springer Tracts in Modern Physics
Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany
ISBN-10: 3662150093
Pagini: 136
Ilustrații: XV, 114 p.
Dimensiuni: 155 x 235 x 7 mm
Greutate: 0.2 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1991
Editura: Springer Berlin, Heidelberg
Colecția Springer
Seria Springer Tracts in Modern Physics
Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany
Public țintă
ResearchCuprins
Basic considerations.- X-ray sources.- The INELAX instrument.- Other approaches to inelastic X-ray scattering.- Applications of inelastic X-ray scattering.- The future of the technique.- Final remarks.