In dieser Monographie werden Verfahren zur modularen Testerzeugung für Schaltnetze entwickelt. Ausgehend von einer Beschreibung der modularen Schaltung und den Tests für die einzelnen Module bestimmen diese Verfahren den Test für die modulare Schaltung. Die Arbeit geht in diesem Zusammenhang auch auf den prüfgerechten Entwurf modularer Schaltungen ein. In Analogie zum klassischen sensibilisierten Pfad, der 1 Bit Testinformation weiterleiten kann, wird der Pfadbegriff auf die parallele Weiterleitung von k Bit Testinformation verallgemeinert. Die Arbeit formalisiert dazu mehrere Klassen von partiell injektiven Pfadfunktionen; daraus werden Kriterien für die Mindesteigenschaften von pfadbildenden Modulen und Algorithmen zum Bilden solcher k-Bit-Pfade abgeleitet. Ziel des Buches ist es, Modultests, die mit speziellen Fehlermodellen und Verfahren in hoher Qualität erzeugbar sind, auch in umfangreichen, modularen Schaltungen anzuwenden. Das Buch liefert dafür die theoretischen Grundlagen und die wesentlichen Algorithmen, die in einer Teilimplementierung auch erprobt wurden.