Cantitate/Preț
Produs
Total produse
Vezi coșul
Failure Mechanisms in Semiconductor Devices de E Ajith Amerasekera

Failure Mechanisms in Semiconductor Devices

Autor E Ajith Amerasekera, Farid N Najm
en Limba Engleză Hardback – 4 aug 1997
In dieser zweiten, aktualisierten Auflage identifizieren die Autoren die Ursachen und Mechanismen, die zu Ausfällen von Halbleiterbauelementen führen. Durch Erkennungsmethoden und Technologien zur Vermeidung von Defekten, die in diesem Buch ausführlich beschrieben werden, wird die Zuverlässigkeit der Bauelemente in der Praxis entscheidend bestimmt.
Citește tot Restrânge

Preț: 168951 lei

Preț vechi: 185660 lei
-9%

Puncte Express: 2534

Carte tipărită la comandă

Livrare economică 07-21 august

Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit pentru acest produs Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
 Adaugă în coș

Wish list
Gift list
Am citit!
Adaugă în listă

Specificații

ISBN-13: 9780471954828
ISBN-10: 0471954829
Pagini: 360
Dimensiuni: 157 x 235 x 26 mm
Greutate: 0.74 kg
Ediția:2nd Revised edition
Editura: Wiley
Locul publicării:Chichester, United Kingdom

Notă biografică

E. Ajith Amerasekera is the author of Failure Mechanisms in Semiconductor Devices, 2nd Edition, published by Wiley. Farid N. Najm is the author of Failure Mechanisms in Semiconductor Devices, 2nd Edition, published by Wiley.

Descriere

In this second edition, the authors identify the sources of failure mechanism in semiconductor devices, examine possible detection and elimination techniques, and determine the effectiveness of reliability devices. The references have been updated and recent advances are discussed.