Semiconductor Laser Engineering, Reliability and Diagnostics
Autor Peter W Epperleinen Limba Engleză Hardback – 18 mar 2013
ECOSISTEMUL: Lucrarea de față se concentrează pe arhitectura și dezvoltarea diodelor laser cu emisie laterală (edge-emitting), operând într-un cadru tehnic ce îmbină fizica semiconductorilor cu protocoalele riguroase de testare industrială și diagnostic avansat. Remarcăm o abordare integrată, rară în literatura de specialitate, care nu se limitează la aspectele teoretice ale laserilor, ci face trecerea critică spre fiabilitatea produsului finit. Suntem de părere că volumul reușește să închidă o lacună majoră prin tratarea simultană a ingineriei dispozitivului și a metodelor de diagnosticare a defectelor la nivel de material. Subliniem structura pragmatică a textului: după stabilirea fundamentelor, Semiconductor Laser Engineering, Reliability and Diagnostics trece direct la ghiduri de proiectare menite să prevină instabilitățile termice și structurale. Ca și Roland Diehl în High-Power Diode Lasers, autorul distilează experiență reală în principii acționabile, însă Epperlein aduce un plus de profunzime în zona de diagnosticare „fit-for-purpose”, prezentând tehnici de investigare pe care le-a pionierat personal în laboratoarele IBM. Lectura oferă un ritm tehnic susținut, unde analiza modurilor de degradare — cum este binecunoscutul „catastrophic optical damage” (COD) — este însoțită de soluții de inginerie pentru creșterea robusteții. Spre deosebire de Advanced Laser Diode Reliability de Massimo Vanzi, care se axează preponderent pe legătura dintre măsurători și diagnoză fizică, volumul de față publicat la Wiley extinde cadrul către programele standard de calificare a produselor comerciale. Este o resursă esențială pentru inginerii care au nevoie de criterii de stabilitate clare și de modele de fiabilitate validate în medii industriale de înaltă tehnologie.
Preț: 825.87 lei
Preț vechi: 907.55 lei
-9%
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 17 iunie-01 iulie
Specificații
ISBN-10: 1119990335
Pagini: 520
Dimensiuni: 157 x 235 x 32 mm
Greutate: 0.9 kg
Editura: Wiley
Locul publicării:Chichester, United Kingdom
Public țintă
Professionals engaged in diode laser product developments (Electrical Engineers, Device Reliability Engineers Material Science Engineers, Research Scientists). Communications Engineers; Academics and postdoctoral fellows/research contract staff; postgraduate studentsDe ce să citești această carte
Recomandăm această carte profesioniștilor din ingineria electronică și știința materialelor care dezvoltă soluții laser de mare putere. Cititorul câștigă acces la metodologii de diagnosticare de ultimă oră și la strategii de prevenire a degradării dispozitivelor, fundamentate pe trei decenii de expertiză industrială. Este un instrument practic pentru a trece de la prototip la un produs fiabil, conform standardelor comerciale stricte.
Despre autor
Dr. Peter W. Epperlein este un expert recunoscut internațional în tehnologia semiconductorilor și a diodelor laser, cu o carieră de peste 30 de ani în centre de cercetare de elită precum IBM Research, Hewlett-Packard, Agilent Technologies și Philips/NXP. Deține un doctorat în fizică de la Universitatea din Stuttgart și a publicat peste 70 de lucrări științifice. Activitatea sa de pionierat în diagnosticul dispozitivelor optoelectronice i-a adus numeroase distincții, inclusiv cinci premii IBM Research Division, fiind direct responsabil pentru dezvoltarea unor laseri cu mod unic de înaltă fiabilitate.