Cantitate/Preț
Produs
Total produse
Vezi coșul
Electromigration and Electronic Device Degradation de Aris Christou

Electromigration and Electronic Device Degradation

Editat de Aris Christou
en Limba Engleză Hardback – 14 ian 1994
Addresses electromigration failure modes in electronics covering both theory and experiments. Reviews silicon and GaAs technologies. Various rate controlling details are summarized including an investigation of temperature dependence. Concludes with a discussion regarding current status and future plans for electromigration resistant advanced metallization systems for VLSI.
Citește tot Restrânge

Preț: 152965 lei

Preț vechi: 168093 lei
-9%

Puncte Express: 2294

Carte tipărită la comandă

Livrare economică 09-23 septembrie

Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit pentru acest produs Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
 Adaugă în coș

Wish list
Gift list
Am citit!
Adaugă în listă

Specificații

ISBN-13: 9780471584896
ISBN-10: 0471584894
Pagini: 360
Dimensiuni: 161 x 240 x 24 mm
Greutate: 0.71 kg
Editura: Wiley
Locul publicării:Hoboken, United States

Descriere

This study reviews an important reliability issue for both silicon and GaAs technologies. It surveys the status of electromigration physics in microelectronics, and summarizes various rate controlling details.