Cantitate/Preț
Produs

VLSI Design and Test

Editat de Brajesh Rawat, Hitesh Shirmali, Shivani Malhotra, Rohit Y. Sharma, Neeraj Goel
en Limba Engleză Paperback – 11 noi 2026
This two-volume set CCIS 2983-2984 constitutes the referred proceedings of the 29th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2025, held in Chandigarh, India, during August 7–9, 2025.
The 105 full papers included in these volumes were carefully reviewed and selected from 415 submissions. They are organized into thematic sections as follows: Emerging Devices and Technology; Analog and Mixed Signal Design; Digital Design and Systems; Memory and Computing Architectures; RF and Embedded Systems; AI Accelerators and Advanced Architectures. 
Citește tot Restrânge

Carte nepublicată încă

Livrare prin curier în România Precomanda se expediază când titlul devine disponibil.
Transport gratuit pentru acest produs Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
Doresc să fiu notificat când acest titlu va fi disponibil:

Specificații

ISBN-13: 9783032263049
ISBN-10: 3032263042
Pagini: 574
Dimensiuni: 155 x 235 mm
Editura: Springer Nature Switzerland AG