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Two-Dimensional X-Ray Diffraction

Autor Bob B He
en Limba Engleză Hardback – 26 iun 2018
Die zweidimensionale Rntgendiffraktion ist die ideale, zerstrungsfreie Analysemethode f1/4r Proben aller Art. Hierzu gehren Metalle, Polymere, Keramiken, Halbleiter, D1/4nnfilme, Beschichtungen, Farben, Biomaterialien, Verbundstoffe u.v.m. Die 2. Auflage von Two-Dimensional X-Ray Diffraction erlutert als aktuelles Referenzwerk, wie die neuesten 2D-Dektektoren in Diffraktometer integriert werden, wie sich mithilfe eines 2D-Detektors f1/4r Diffraktometer die besten Daten gewinnen lassen und wie die Daten zu interpretieren sind. œberaus hilfreich f1/4r alle, die die 2D-Diffraktion im eigenen Labor umsetzen mchten, sind die Ausf1/4hrungen des Autors zu den physikalischen Prinzipien, zur Projektionsgeometrie und zu mathematischen Ableitungen.
- Bietet neue Inhalte in allen Kapiteln. Die meisten Abbildungen sind gnzlich in Farbe und zeigen so mehr Einzelheiten in den Illustrationen und Diffraktionsmustern.
- Deckt die j1/4ngsten Fortschritte in der Detektortechnik und bei Strategien zur zweidimensionalen Datensammlung ab, die dazu gef1/4hrt haben, dass 2D-Detektoren verstrkt in der Rntgendiffraktion zum Einsatz kommen.
- Behandelt ausf1/4hrlich neue Innovationen im Hinblick auf Rntgenquellen, Optik, Systemkonfigurationen, Anwendungen und Algorithmen zur Datenevaluierung.
- Enthlt neue Methoden und Beispiele f1/4r Versuchsaufbauten f1/4r Belastungs-, Textur-, KristallgrŸe-, Kristallorientierungs- und D1/4nnfilmanalysen. Die 2. Auflage von Two-Dimensional X-Ray Diffraction ist ein wichtiges Referenzwerk f1/4r Forscher und Entwickler in den Materialwissenschaften, der Chemie und Physik sowie im Pharmabereich, sowohl in der Industrie als auch im universitren Umfeld, und f1/4r alle, die die Rntgendiffraktion als Charakterisierungsverfahren einsetzen. Dieses Nachschlagewerk darf in der Handbibliothek von Anwendern auf allen Ebenen, von Gertetechnikern, Managern in Rntgenlabors und Gerteentwicklern nicht fehlen.
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Specificații

ISBN-13: 9781119356103
ISBN-10: 1119356105
Pagini: 496
Dimensiuni: 179 x 259 x 24 mm
Greutate: 0.98 kg
Ediția:2nd edition
Editura: Wiley
Locul publicării:Hoboken, United States

Public țintă

Primary readership: Industrial and academic researchers and developers in the areas of materials science, chemistry, physics, pharmaceuticals, etc., who use x–ray diffraction as a characterization method; Instrument technicians and X–ray laboratory managers in various X–ray laboratories; Instrument developers to design and configure x–ray diffractometers
Secondary readership: Students taking advanced courses in analytical science.
Used by universities as a textbook or reference books for advanced undergraduate or graduate courses. PittCon short course on the subject is available.

Notă biografică

Bob B. He, PhD, is Director of Innovation and Business Development XRD2 at Bruker AXS-an industry leader in X-ray diffraction instrumentation and solutions (formally Siemens AXS). Dr. He holds 17 U.S. patents and two R&D 100 awards in XRD instrumentation. In recognition of his contribution to the XRD community, he has been recently awarded ICDD Fellow. He earned his doctorate in materials science from Virginia Tech.