The Rietveld Method: International Union of Crystallography Monographs on Crystallography, cartea 5
R. a. Youngen Limba Engleză Paperback – 19 ian 1995
Din seria International Union of Crystallography Monographs on Crystallography
- 16%
Preț: 372.07 lei - 23%
Preț: 728.25 lei - 22%
Preț: 448.18 lei - 50%
Preț: 1196.64 lei - 34%
Preț: 2090.83 lei - 34%
Preț: 775.35 lei - 35%
Preț: 1384.51 lei - 34%
Preț: 619.78 lei - 23%
Preț: 448.28 lei - 34%
Preț: 1187.34 lei - 33%
Preț: 2162.51 lei - 35%
Preț: 493.08 lei - 34%
Preț: 842.56 lei - 33%
Preț: 525.62 lei - 31%
Preț: 450.72 lei - 31%
Preț: 410.52 lei - 34%
Preț: 886.24 lei - 34%
Preț: 920.31 lei - 33%
Preț: 792.34 lei - 27%
Preț: 743.28 lei - 33%
Preț: 655.54 lei - 37%
Preț: 1413.66 lei - 37%
Preț: 1235.97 lei - 31%
Preț: 472.93 lei - 34%
Preț: 1534.26 lei - 37%
Preț: 1562.98 lei - 31%
Preț: 382.75 lei - 33%
Preț: 624.70 lei
Preț: 492.67 lei
Preț vechi: 536.52 lei
-8%
Puncte Express: 739
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 30 iulie-05 august
Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit pentru acest produs Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
Specificații
ISBN-13: 9780198559122
ISBN-10: 0198559127
Pagini: 308
Ilustrații: line drawings, tables
Dimensiuni: 156 x 234 x 18 mm
Greutate: 0.46 kg
Ediția:Revised
Editura: OUP International Union of Crystallography
Colecția OUP Oxford
Seria International Union of Crystallography Monographs on Crystallography
Locul publicării:Oxford, United Kingdom
ISBN-10: 0198559127
Pagini: 308
Ilustrații: line drawings, tables
Dimensiuni: 156 x 234 x 18 mm
Greutate: 0.46 kg
Ediția:Revised
Editura: OUP International Union of Crystallography
Colecția OUP Oxford
Seria International Union of Crystallography Monographs on Crystallography
Locul publicării:Oxford, United Kingdom
Cuprins
R.A. Young: Introduction to the Rietveld Method; H.M. Rietveld: The early days: a retrospective view; E. Prince: Mathematical aspects of Rietveld refinement; T.M. Sabine: The flow of radiation in a polycrystalline material; R.J. Hill: Data collection strategies: fitting the experiment to the need; J.W. Richardson jr: Background modelling in Rietveld analysis; R.L. Snyder: Analytical profile fitting of X-ray powder diffraction profiles in Rietveld analysis; R. Delhez, Th. H. de Keijser, J.I. Langford, D. Louër, E.J. Mittemeijer, and E.J. Sonneveld: Crystal imperfection broadening and peak shape in the Rietveld method; P. Suortti: Bragg reflection profile shape in X-ray powder diffraction patterns; C. Bärlocher: Restraints and constraints in Rietveld refinement; W.I.F. David, & J.D. Jorgensen: Rietveld refinement with time-of-flight powder diffraction from pulsed neutron sources; R.B. von Dreele: Combined X-ray and neutron Rietveld refinement; F. Izumi: Rietveld analysis programs Rietan and Premos and special applications; H. Toraya: Position-constrained and unconstrained powder-pattern-decomposition methods; A.K. Cheetham: Ab initio structure solutions with powder diffraction data.
Recenzii
essential reading for any individual who is interested in using the Rietweld method in materials analysis