Cantitate/Preț
Produs
Total produse
Vezi coșul
Diffuse X-ray Scattering and Models of Disorder de T.R. Welberry

Diffuse X-ray Scattering and Models of Disorder: International Union of Crystallography Monographs on Crystallography, cartea 31

Autor T.R. Welberry
en Limba Engleză Hardback – mai 2022

Ediția a doua a lucrării Diffuse X-ray Scattering and Models of Disorder marchează o actualizare necesară a fundamentelor analizei structurale, la aproape două decenii de la prima apariție. Subliniem faptul că această versiune integrează progresele tehnologice majore survenite din 2004, în special apariția detectorilor de nouă generație care permit colectarea rutineră a datelor tridimensionale de împrăștiere difuză, chiar și pentru eșantioane de dimensiuni reduse. Considerăm esențială noua secțiune finală, care urmărește evoluția puterii de calcul, transformând simulările complexe — anterior imposibile — în instrumente de lucru zilnice pentru cercetători.

Textul se distinge prin abordarea metodologică: autorul T.R. Welberry demonstrează cum simularea pe calculator a unui model de cristal oferă o cale universală de interpretare a împrăștierii difuze, indiferent de tipul materialului studiat. Structura cărții, susținută de peste 200 de ilustrații și fotografii, facilitează tranziția de la determinarea structurii cristaline convenționale la extragerea informațiilor structurale locale. Această lucrare extinde cadrul propus de Diffuse Neutron Scattering from Crystalline Materials de Victoria M. Nield cu date noi din domeniul radiațiilor X și reflectă capacitățile actuale de procesare digitală. În timp ce X-Ray Scattering from Semiconductors and Other Materials (3rd Edition) se concentrează pe hărțile spațiului reciproc și influența instrumentației, volumul de față prioritizează modelarea dezordinii ca soluție pentru înțelegerea proprietăților fizice ale materialelor. Ritmul este cel al unui tratat academic riguros, unde fiecare model teoretic este dublat de o aplicabilitate computațională directă.

Citește tot Restrânge

Din seria International Union of Crystallography Monographs on Crystallography

Preț: 70629 lei

Preț vechi: 91726 lei
-23%

Puncte Express: 1059

Carte disponibilă

Livrare economică 18 mai-01 iunie

 Adaugă în coș

Wish list
Gift list
Am citit!
Adaugă în listă

Specificații

ISBN-13: 9780198862482
ISBN-10: 0198862482
Pagini: 422
Ilustrații: 206 line drawings and photographs
Dimensiuni: 170 x 240 x 25 mm
Greutate: 0 kg
Ediția:2
Editura: OUP OXFORD
Colecția OUP Oxford
Seria International Union of Crystallography Monographs on Crystallography

Locul publicării:Oxford, United Kingdom

De ce să citești această carte

Această monografie este indispensabilă pentru cercetătorii în cristalografie și chimia stării solide care doresc să depășească limitele analizei Bragg. Cititorul câștigă o metodologie clară pentru utilizarea simulărilor pe calculator în interpretarea dezordinii structurale. Este o resursă rară care combină rigoarea matematică a seriei IUCr cu soluții practice pentru noile tehnologii de detecție 3D, fiind utilă atât în mediul academic, cât și în cercetarea materialelor avansate.

Despre autor

T.R. Welberry este o figură de referință în comunitatea științifică internațională, fiind recunoscut pentru contribuțiile sale fundamentale în domeniul cristalografiei. Expertiza sa se concentrează pe studiul dezordinii în cristale prin utilizarea împrăștierii difuze de raze X, o nișă în care a activat timp de decenii. Lucrarea sa, publicată sub egida OUP Oxford în prestigioasa serie a Uniunii Internaționale de Cristalografie, reflectă o carieră dedicată dezvoltării metodelor de simulare computațională, autorul fiind un pionier în adaptarea algoritmilor de calcul pentru analiza structurală fină a materialelor.

Descriere

Diffuse X-ray scattering is a rich source of local structural information over and above that obtained by conventional crystal structure determination. The main aim of the book is to show how computer simulation of a model crystal provides a general method by which diffuse scattering of all kinds and from all types of materials can be interpreted and analysed. Since the first edition was published in 2004 there have been major improvements both in the experimental methods for recording diffuse scattering and in our ability to analyse it. The advent of new and better detectors means that fully 3-dimensional diffuse scattering data can be collected routinely for even quite small samples and computational power that is now available has continued its upward trend, meaning modelling calculations inconceivable in 2004 are now routine. The final part of the book traces these recent developments and outlines their future potential in the field.

Recenzii

Diffuse X-ray Scattering and Models of Disorder remains essential reading for anyone interested in diffuse scattering methods -- novice and expert alike. For the novice, there is the helpful background one needs to enter the field, and the advantage of learning from the experience of one of the field's true pioneers. For the expert, the text is rich with nuggets of profound insight into the structures of disordered systems and the relationship between disorder and the scattering function.

Notă biografică

Following his PhD degree (1968-1970) in Kathleen Lonsdale's Chemical Crystallography Laboratory at University College, London and a Postdoctoral Fellowship at University College Cardiff, T. R. Welberry was appointed to the Research School of Chemistry at ANU in 1975 and subsequently became full Professor and is now an Emeritus Professor. He was Co-editor of two IUCr Journals over a period of 15 years and is now Editor of International Tables for Crystallography Vol. C.