The Drift Diffusion Equation and Its Applications in MOSFET Modeling: Computational Microelectronics
Autor Wilfried Hänschen Limba Engleză Paperback – 30 dec 2011
Din seria Computational Microelectronics
- 18%
Preț: 917.40 lei - 18%
Preț: 907.85 lei - 15%
Preț: 621.17 lei - 18%
Preț: 914.96 lei - 15%
Preț: 580.11 lei - 18%
Preț: 915.13 lei - 15%
Preț: 613.49 lei - 15%
Preț: 617.72 lei - 18%
Preț: 917.40 lei - 20%
Preț: 474.17 lei -
Preț: 372.31 lei -
Preț: 382.30 lei - 20%
Preț: 640.65 lei -
Preț: 378.05 lei - 28%
Preț: 759.94 lei - 18%
Preț: 1770.41 lei - 15%
Preț: 561.75 lei
Preț: 375.27 lei
Puncte Express: 563
Preț estimativ în valută:
66.36€ • 78.69$ • 57.78£
66.36€ • 78.69$ • 57.78£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 30 martie-13 aprilie
Specificații
ISBN-13: 9783709190975
ISBN-10: 3709190975
Pagini: 271
Ilustrații: XII, 271 p.
Dimensiuni: 170 x 244 x 20 mm
Greutate: 0.46 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1991
Editura: SPRINGER VIENNA
Colecția Springer
Seria Computational Microelectronics
Locul publicării:Vienna, Austria
ISBN-10: 3709190975
Pagini: 271
Ilustrații: XII, 271 p.
Dimensiuni: 170 x 244 x 20 mm
Greutate: 0.46 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1991
Editura: SPRINGER VIENNA
Colecția Springer
Seria Computational Microelectronics
Locul publicării:Vienna, Austria
Public țintă
ResearchCuprins
1 Boltzmann’s Equation.- 1.1 Introduction.- 1.2 Many-Body System in Equilibrium.- 1.3 Non-Equilibrium Green’s Functions.- References.- 2 Hydrodynamic Model.- 2.1 Introduction.- 2.2 Linear Response and Relaxation-Time Approximation.- 2.3 Nonlinear Response and the Moment Method.- 2.4 Summary.- References.- 3 Carrier Transport in an Inversion Channel.- 3.1 Introduction.- 3.2 The Classical Limit ? ? 0.- 3.3 Surface Mobility.- References.- 4 High Energetic Carriers.- 4.1 Introduction.- 4.2 Impact Ionization Scattering Strength.- 4.3 Distribution Function.- 4.4 Impact Ionization Coefficient and Gate Oxide Injection.- References.- 5 Degredation.- 5.1 Introduction.- 5.2 Analyzing a Degraded MOSFET.- 5.3 The Degradation Process.- References.- Appendix 1. Perturbation Theory and Diagram Technique.- Appendix 2. Inversion Channel Particle-Density Distribution in Equilibrium.- Author Index.