Synthetic Polymeric Membranes: Springer Laboratory
Autor K. C. Khulbe, C. Y. Feng, Takeshi Matsuuraen Limba Engleză Hardback – 17 dec 2007
Din seria Springer Laboratory
- 15%
Preț: 667.37 lei -
Preț: 387.53 lei - 18%
Preț: 787.66 lei - 15%
Preț: 626.52 lei -
Preț: 373.99 lei - 15%
Preț: 620.36 lei - 18%
Preț: 761.23 lei -
Preț: 388.30 lei - 15%
Preț: 695.34 lei - 15%
Preț: 647.51 lei - 15%
Preț: 625.14 lei - 18%
Preț: 955.75 lei - 18%
Preț: 861.00 lei - 15%
Preț: 649.44 lei -
Preț: 376.56 lei -
Preț: 376.75 lei - 15%
Preț: 632.31 lei -
Preț: 387.31 lei - 15%
Preț: 558.12 lei
Preț: 645.15 lei
Preț vechi: 759.01 lei
-15%
Puncte Express: 968
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 31 august-14 septembrie
Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit pentru acest produs Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
Specificații
ISBN-13: 9783540739937
ISBN-10: 3540739939
Pagini: 216
Ilustrații: XVIII, 198 p. 146 illus.
Dimensiuni: 160 x 241 x 17 mm
Greutate: 0.49 kg
Ediția:2008
Editura: Springer
Colecția Springer Laboratory
Seria Springer Laboratory
Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany
ISBN-10: 3540739939
Pagini: 216
Ilustrații: XVIII, 198 p. 146 illus.
Dimensiuni: 160 x 241 x 17 mm
Greutate: 0.49 kg
Ediția:2008
Editura: Springer
Colecția Springer Laboratory
Seria Springer Laboratory
Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany
Public țintă
ResearchCuprins
Synthetic Membranes for Membrane Processes.- Atomic Force Microscopy.- Nodular Structure of Polymers in the Membrane.- Pore Size, Pore Size Distribution, and Roughness at the Membrane Surface.- Cross-sectional AFM Image.- Adhesion.- Membrane Surface Morphology and Membrane Performance.
Recenzii
From the reviews:
"This latest addition to the Springer Laboratory series provides a good overview of membrane technology and the application of atomic force microscopy (AFM) in membrane characterization. It is easy to read … . In summary, this book presents a good introduction to the field of membrane science and technology. It will be of interest to both academics and industrialists involved in the use of membranes in separation processes and will be particularly welcomed by experimentalists who wish to become involved in AFM." (Peter A. Williams, Materials Today, Vol. 11 (5), May, 2008)
"This latest addition to the Springer Laboratory series provides a good overview of membrane technology and the application of atomic force microscopy (AFM) in membrane characterization. It is easy to read … . In summary, this book presents a good introduction to the field of membrane science and technology. It will be of interest to both academics and industrialists involved in the use of membranes in separation processes and will be particularly welcomed by experimentalists who wish to become involved in AFM." (Peter A. Williams, Materials Today, Vol. 11 (5), May, 2008)
Caracteristici
First book which combines both fields AFM and Synthetic Membranes Will provide a very useful guide to the readers who wish to enter the subject of the book Gives details of AFM experimental methods and interpretation of experimental data Includes supplementary material: sn.pub/extras