Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods: Nato ASI Subseries B:, cartea 16
Editat de Ugo Valdrèen Limba Engleză Paperback – 25 noi 2012
Din seria Nato ASI Subseries B:
-
Preț: 394.11 lei -
Preț: 382.10 lei -
Preț: 376.39 lei -
Preț: 394.31 lei -
Preț: 390.81 lei -
Preț: 390.23 lei - 5%
Preț: 360.88 lei -
Preț: 394.31 lei - 20%
Preț: 544.75 lei -
Preț: 383.75 lei -
Preț: 404.47 lei -
Preț: 403.57 lei -
Preț: 388.04 lei -
Preț: 399.86 lei -
Preț: 393.02 lei -
Preț: 388.93 lei -
Preț: 388.20 lei -
Preț: 383.23 lei -
Preț: 413.57 lei - 5%
Preț: 356.57 lei - 20%
Preț: 325.15 lei -
Preț: 387.82 lei -
Preț: 376.39 lei -
Preț: 374.51 lei -
Preț: 399.28 lei -
Preț: 387.27 lei -
Preț: 405.03 lei -
Preț: 386.97 lei -
Preț: 372.26 lei -
Preț: 393.37 lei -
Preț: 391.71 lei -
Preț: 384.48 lei -
Preț: 400.33 lei -
Preț: 378.57 lei
Preț: 381.30 lei
Puncte Express: 572
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 08-22 iulie
Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit de la 400.00 lei Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
Specificații
ISBN-13: 9781461595397
ISBN-10: 1461595398
Pagini: 332
Ilustrații: VIII, 319 p.
Dimensiuni: 170 x 244 x 19 mm
Greutate: 0.58 kg
Ediția:1988
Editura: Springer
Colecția Nato ASI Subseries B:
Seria Nato ASI Subseries B:
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 1461595398
Pagini: 332
Ilustrații: VIII, 319 p.
Dimensiuni: 170 x 244 x 19 mm
Greutate: 0.58 kg
Ediția:1988
Editura: Springer
Colecția Nato ASI Subseries B:
Seria Nato ASI Subseries B:
Locul publicării:New York, NY, United States
Public țintă
ResearchCuprins
Principles and techniques of transmission imaging of surfaces.- Catalyst studies by scanning transmission electron microscopy.- Localised surface imaging and spectroscopy in the scanning transmission electron microscope.- Fundamentals of high resolution transmission electron microscopy.- Profile imaging of small particles, extended surfaces and dynamic surface phenomena.- Transmission electron microscopy and diffraction from semiconductor interfaces and surfaces.- The transmission electron microscopy of interfaces and multilayers.- Surface microanalysis and microscopy by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), core-loss spectroscopy (CLS) and Auger electron spectroscopy (AES).- Reflection electron microscopy.- An introduction to reflection high energy electron diffraction.- Intensity oscillations in reflection high energy electron diffraction during epitaxial growth.- Emission and low energy reflection electron microscopy.- Scanning tunneling microscopy and spectroscopy.- Spin-polarized secondary electrons from ferromagnets.- Electronically stimulated desorption: mechanisms, applications and implications.- Structure and catalytic activity of surfaces.