Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods: Nato ASI Subseries B:, cartea 16
Editat de Ugo Valdrèen Limba Engleză Paperback – 25 noi 2012
Din seria Nato ASI Subseries B:
-
Preț: 394.11 lei -
Preț: 382.10 lei -
Preț: 376.39 lei -
Preț: 394.31 lei -
Preț: 390.81 lei -
Preț: 390.23 lei - 5%
Preț: 360.88 lei -
Preț: 394.31 lei - 20%
Preț: 544.75 lei -
Preț: 383.75 lei -
Preț: 404.47 lei -
Preț: 398.55 lei -
Preț: 388.04 lei -
Preț: 399.86 lei -
Preț: 393.02 lei -
Preț: 388.93 lei -
Preț: 388.20 lei -
Preț: 383.23 lei -
Preț: 413.57 lei - 5%
Preț: 356.57 lei - 20%
Preț: 325.15 lei -
Preț: 387.82 lei -
Preț: 376.39 lei -
Preț: 374.51 lei -
Preț: 399.28 lei -
Preț: 387.27 lei -
Preț: 405.03 lei -
Preț: 386.97 lei -
Preț: 420.37 lei -
Preț: 372.26 lei -
Preț: 393.37 lei -
Preț: 391.71 lei -
Preț: 406.13 lei -
Preț: 384.48 lei -
Preț: 400.33 lei -
Preț: 378.57 lei
Preț: 381.30 lei
Puncte Express: 572
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 23 mai-06 iunie
Specificații
ISBN-13: 9781461595397
ISBN-10: 1461595398
Pagini: 332
Ilustrații: VIII, 319 p.
Dimensiuni: 170 x 244 x 19 mm
Greutate: 0.58 kg
Ediția:1988
Editura: Springer
Colecția Nato ASI Subseries B:
Seria Nato ASI Subseries B:
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 1461595398
Pagini: 332
Ilustrații: VIII, 319 p.
Dimensiuni: 170 x 244 x 19 mm
Greutate: 0.58 kg
Ediția:1988
Editura: Springer
Colecția Nato ASI Subseries B:
Seria Nato ASI Subseries B:
Locul publicării:New York, NY, United States
Public țintă
ResearchCuprins
Principles and techniques of transmission imaging of surfaces.- Catalyst studies by scanning transmission electron microscopy.- Localised surface imaging and spectroscopy in the scanning transmission electron microscope.- Fundamentals of high resolution transmission electron microscopy.- Profile imaging of small particles, extended surfaces and dynamic surface phenomena.- Transmission electron microscopy and diffraction from semiconductor interfaces and surfaces.- The transmission electron microscopy of interfaces and multilayers.- Surface microanalysis and microscopy by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), core-loss spectroscopy (CLS) and Auger electron spectroscopy (AES).- Reflection electron microscopy.- An introduction to reflection high energy electron diffraction.- Intensity oscillations in reflection high energy electron diffraction during epitaxial growth.- Emission and low energy reflection electron microscopy.- Scanning tunneling microscopy and spectroscopy.- Spin-polarized secondary electrons from ferromagnets.- Electronically stimulated desorption: mechanisms, applications and implications.- Structure and catalytic activity of surfaces.