Superconducting Electron-Optic Devices: The International Cryogenics Monograph Series
Editat de I. Dietrichen Limba Engleză Paperback – 26 noi 2012
Preț: 608.78 lei
Preț vechi: 716.21 lei
-15%
Puncte Express: 913
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 18 iulie-01 august
Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit pentru acest produs Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
Specificații
ISBN-13: 9781468422016
ISBN-10: 1468422014
Pagini: 156
Ilustrații: X, 140 p. 38 illus.
Dimensiuni: 152 x 229 x 8 mm
Greutate: 0.22 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1976
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Seria The International Cryogenics Monograph Series
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 1468422014
Pagini: 156
Ilustrații: X, 140 p. 38 illus.
Dimensiuni: 152 x 229 x 8 mm
Greutate: 0.22 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1976
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Seria The International Cryogenics Monograph Series
Locul publicării:New York, NY, United States
Public țintă
ResearchCuprins
1 Historical Survey.- 2 Basic Principles of Electron Optics.- 2.1. Rotationally Symmetric Lenses in the Bell-Shaped Field Approximation.- 2.2. Rotationally Symmetric Lenses with Arbitrary Field Distribution.- 2.3. Aberrations Resulting from Misalignment.- 2.4. Multipole Fields for Beam Correction.- 2.5. Image Contrast.- 2.6. Further Sources of Error.- 2.7. Fixed Beam and Scanning Mode.- 3 Superconducting Devices in Electron Microscopy.- 3.1. Advantages of Superconducting Devices.- 3.2. Technical Problems.- 4 Lens Design and Testing.- 4.1. Lens Design and Field Distribution.- 4.2. Correction Systems for Superconducting Objective Lenses.- 4.3. Testing of Objective Lenses.- 5 Systems with Superconducting Lenses.- 5.1. Tested Systems.- 5.2. Projected Systems.- 6 Other Superconducting Elements for Electron Microscopy.- 6.1. Superconducting High-Voltage Beam Generator.- 6.2. Magnetic Dipoles.- 7 Proposed Superconducting 3-MV Microscope.- 7.1. Accelerator.- 7.2. Spectrometer.- 7.3. Microscope Column.- 7.4. Further Improvements of the System.- Appendixes.- A. Superconducting Electron Optical Systems for High-Energy Physics.- A.1. General Remarks.- A.2. Magnet Designs.- B. Application of Electron Microscopy to Basic Research on Superconductivity.- B.1. Imaging by the Decoration Method.- B.2. Imaging by Electron Shadow Microscopy.- B.3. Imaging by an Electron Mirror Microscope.- B.4. Imaging by Lorentz Microscopy.- B.5. Imaging by a Vortex Electron Microscope.- References.