Statistical Regression with Measurement Error
Autor Chi-Lun Cheng, John W van Nessen Limba Engleză Hardback – 28 iun 2010
Preț: 512.23 lei
Preț vechi: 556.78 lei
-8%
Puncte Express: 768
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 09-23 iulie
Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit pentru acest produs Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
Specificații
ISBN-13: 9780470711064
ISBN-10: 047071106X
Pagini: 282
Dimensiuni: 161 x 240 x 20 mm
Greutate: 0.59 kg
Editura: Wiley
Locul publicării:Chichester, United Kingdom
ISBN-10: 047071106X
Pagini: 282
Dimensiuni: 161 x 240 x 20 mm
Greutate: 0.59 kg
Editura: Wiley
Locul publicării:Chichester, United Kingdom