Statistical Regression with Measurement Error
Autor Chi-Lun Cheng, John W van Nessen Limba Engleză Hardback – 28 iun 2010
Preț: 507.07 lei
Preț vechi: 551.16 lei
-8%
Puncte Express: 761
Preț estimativ în valută:
89.64€ • 106.88$ • 77.75£
89.64€ • 106.88$ • 77.75£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 16-30 martie
Specificații
ISBN-13: 9780470711064
ISBN-10: 047071106X
Pagini: 282
Dimensiuni: 161 x 240 x 20 mm
Greutate: 0.59 kg
Editura: Wiley
Locul publicării:Chichester, United Kingdom
ISBN-10: 047071106X
Pagini: 282
Dimensiuni: 161 x 240 x 20 mm
Greutate: 0.59 kg
Editura: Wiley
Locul publicării:Chichester, United Kingdom