Cantitate/Preț
Produs

Statistical Regression with Measurement Error

Autor Chi-Lun Cheng, John W van Ness
en Limba Engleză Hardback – 28 iun 2010
Providing a general survey of the theory of measurement error models, including the functional, structural, and ultrastructural models, this book is written in the of the Kendall and Stuart Advanced Theory of Statistics set and, like that series, includes exercises at the end of the chapters.
Citește tot Restrânge

Preț: 50707 lei

Preț vechi: 55116 lei
-8% Nou

Puncte Express: 761

Preț estimativ în valută:
8973 10522$ 7880£

Carte tipărită la comandă

Livrare economică 02-16 februarie 26

Preluare comenzi: 021 569.72.76

Specificații

ISBN-13: 9780470711064
ISBN-10: 047071106X
Pagini: 282
Dimensiuni: 161 x 240 x 20 mm
Greutate: 0.59 kg
Editura: Wiley
Locul publicării:Chichester, United Kingdom