Cantitate/Preț
Produs

Statistical Regression with Measurement Error

Autor Chi-Lun Cheng, John W van Ness
en Limba Engleză Hardback – 28 iun 2010
Providing a general survey of the theory of measurement error models, including the functional, structural, and ultrastructural models, this book is written in the of the Kendall and Stuart Advanced Theory of Statistics set and, like that series, includes exercises at the end of the chapters.
Citește tot Restrânge

Preț: 51223 lei

Preț vechi: 55678 lei
-8%

Puncte Express: 768

Carte tipărită la comandă

Livrare economică 09-23 iulie

Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit pentru acest produs Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.

Specificații

ISBN-13: 9780470711064
ISBN-10: 047071106X
Pagini: 282
Dimensiuni: 161 x 240 x 20 mm
Greutate: 0.59 kg
Editura: Wiley
Locul publicării:Chichester, United Kingdom