Spectroscopic and Diffraction Techniques in Interfacial Electrochemistry
Editat de C. Gutiérrez, C. A. Melendresen Limba Engleză Paperback – 31 oct 2012
Preț: 388.47 lei
Puncte Express: 583
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 18 august-01 septembrie
Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit de la 400.00 lei Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
Specificații
ISBN-13: 9789401056847
ISBN-10: 9401056846
Pagini: 500
Ilustrații: XVI, 481 p.
Dimensiuni: 155 x 235 x 27 mm
Greutate: 0.75 kg
Ediția:1990
Editura: SPRINGER NETHERLANDS
Locul publicării:Dordrecht, Netherlands
ISBN-10: 9401056846
Pagini: 500
Ilustrații: XVI, 481 p.
Dimensiuni: 155 x 235 x 27 mm
Greutate: 0.75 kg
Ediția:1990
Editura: SPRINGER NETHERLANDS
Locul publicării:Dordrecht, Netherlands
Public țintă
ResearchCuprins
The Advancing Frontier in the Knowledge of the Structure of Interphases.- Some Recent Spectroscopic Approaches to the Solid-Solution Interface.- Application to Electrocatalysis of EMIRS (Electrochemically Modulated Infrared Reflectance Spectroscopy) and Related Techniques.- Photoacoustic Spectroscopy and the In-Situ Characterization of the Electrochemical Interface.- Raman Spectroscopic Techniques in Interfacial Electrochemistry.- Laser Raman Spectroscopy in Studies of Corrosion and Electrocatalysis.- UV-Visible Reflectance Spectroscopy in Electrochemistry.- Study of Anodic Oxides by UV-Visible Potential-Modulated Reflectance Spectroscopy.- Nonlinear Optical Techniques for Surface Studies.- X-Ray Diffraction at the Electrode-Solution Interface.- X-Ray Reflectivity and Surface Roughness.- Surface Structural Investigations by Electron Diffraction Techniques.- Auger Electron Spectroscopy and the Electrochemical Interface.- Photoelectron Spectroscopy (XPS and UPS) of Electrode Surfaces.- Rutherford Backscattering Spectroscopy of Electrode Surfaces.- Electrochemical Applications of Scanning Tunneling Microscopy.