Protocol Test Systems: IFIP Advances in Information and Communication Technology
Editat de Tadanori Mizuno, Teruo Higashino, Norio Shiratorien Limba Engleză Paperback – 19 ian 2013
Din seria IFIP Advances in Information and Communication Technology
- 20%
Preț: 334.13 lei -
Preț: 382.30 lei - 20%
Preț: 323.23 lei - 20%
Preț: 329.80 lei - 20%
Preț: 544.99 lei - 20%
Preț: 438.53 lei - 15%
Preț: 624.01 lei - 20%
Preț: 1122.44 lei - 20%
Preț: 523.54 lei - 18%
Preț: 914.16 lei - 20%
Preț: 1259.11 lei - 20%
Preț: 694.32 lei - 20%
Preț: 1387.21 lei - 20%
Preț: 511.28 lei - 20%
Preț: 752.82 lei - 20%
Preț: 753.04 lei - 18%
Preț: 1184.70 lei - 20%
Preț: 1246.15 lei - 20%
Preț: 1256.72 lei - 18%
Preț: 920.96 lei - 33%
Preț: 535.48 lei - 20%
Preț: 632.01 lei - 15%
Preț: 627.39 lei - 20%
Preț: 968.39 lei - 15%
Preț: 625.33 lei - 20%
Preț: 970.44 lei - 20%
Preț: 630.06 lei - 20%
Preț: 1235.50 lei - 20%
Preț: 1247.98 lei - 18%
Preț: 1193.24 lei - 20%
Preț: 1251.13 lei - 18%
Preț: 911.42 lei - 20%
Preț: 1240.76 lei - 18%
Preț: 1198.80 lei - 20%
Preț: 969.20 lei - 18%
Preț: 1189.45 lei - 20%
Preț: 1251.50 lei - 18%
Preț: 929.48 lei - 20%
Preț: 1250.27 lei - 20%
Preț: 1249.03 lei - 20%
Preț: 964.45 lei - 18%
Preț: 925.91 lei - 20%
Preț: 955.16 lei - 18%
Preț: 913.86 lei - 20%
Preț: 1247.77 lei - 18%
Preț: 1194.20 lei - 18%
Preț: 1202.36 lei - 20%
Preț: 964.61 lei
Preț: 926.53 lei
Preț vechi: 1129.91 lei
-18%
Puncte Express: 1390
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 01-15 august
Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit pentru acest produs Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
Specificații
ISBN-13: 9781475763102
ISBN-10: 1475763107
Pagini: 360
Ilustrații: X, 348 p.
Dimensiuni: 155 x 235 x 20 mm
Greutate: 0.55 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1995
Editura: Springer
Colecția IFIP Advances in Information and Communication Technology
Seria IFIP Advances in Information and Communication Technology
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 1475763107
Pagini: 360
Ilustrații: X, 348 p.
Dimensiuni: 155 x 235 x 20 mm
Greutate: 0.55 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1995
Editura: Springer
Colecția IFIP Advances in Information and Communication Technology
Seria IFIP Advances in Information and Communication Technology
Locul publicării:New York, NY, United States
Public țintă
ResearchCuprins
1 Open issues in conformance test specification.- 2 OSI protocol testing system based on user friendly test scenario specification functions.- 3 TTCN test case correctness validation.- 4 Fault coverage of tests based on finite state models.- 5 On transition time testing based on extended finite state machines.- 6 Selecting test sequences for partially-specified nondeterministic finite state machines.- 7 An optimal state identification method using a dynamic-programming-based approach for protocol testing.- 8 The present status of conformance testing and interoperability testing.- 9 Design and implementation of an interconnectability testing system — AICTS.- 10 Evaluation of some test generation tools on a real protocol example.- 11 Protocol validation tools as test case generators.- 12 Framework for formal methods in conformance testing.- 13 Testing strategies for communicating FSMs.- 14 A generalization of the multiple UIO method of test sequence selection for protocols represented in FSM.- 15 Automatic generation of extended UIO sequences for communication protocols in an EFSM model.- 16 A new test sequence generation method for interoperability testing.- 17 How to observe interoperability at the service level of protocols.- 18 Testing using telecommunications management.- 19 An implementation of CMIP/CMISE conformance testing system.- 20 A conformance testing framework for applying test purposes.- 21 Implementation of TTCN operational semantics in Estelle.- 22 An approach to TTCN-based test execution.- 23 Time oriented protocol testing simulator.- 24 On the exploitation of parallelism in a test generation method for LOTOS-specifications.- 25 Panel on some issues on testing theory and its application.- 26 Some issues on testing theory and its application.- Index ofcontributors.- Keyword index.