Particle Characterization: Light Scattering Methods: Particle Technology Series, cartea 13
Autor Renliang Xuen Limba Engleză Hardback – 31 mai 2000
In addition, a summary of all major particle sizing and other characterization methods, basic statistics and sample preparation techniques used in particle characterization, as well as almost 500 latest references are provided.
The book is a must for industrial users of light scattering techniques characterizing a variety of particulate systems and for undergraduate or graduate students who want to learn how to use light scattering to study particular materials, in chemical engineering, material sciences, physical chemistry and other related fields.
Din seria Particle Technology Series
- 18%
Preț: 704.97 lei - 15%
Preț: 643.80 lei -
Preț: 368.96 lei - 18%
Preț: 1485.61 lei - 15%
Preț: 611.57 lei - 18%
Preț: 960.16 lei - 18%
Preț: 1332.46 lei - 18%
Preț: 910.71 lei - 18%
Preț: 1332.90 lei - 18%
Preț: 1335.47 lei - 18%
Preț: 1655.00 lei - 15%
Preț: 617.49 lei - 15%
Preț: 638.15 lei - 18%
Preț: 906.34 lei - 18%
Preț: 969.12 lei - 24%
Preț: 857.85 lei - 18%
Preț: 1070.72 lei - 18%
Preț: 854.31 lei - 18%
Preț: 1176.22 lei - 18%
Preț: 1746.74 lei - 18%
Preț: 1186.88 lei - 18%
Preț: 2006.51 lei - 18%
Preț: 1186.41 lei - 18%
Preț: 1340.19 lei - 18%
Preț: 1178.53 lei
Preț: 1338.08 lei
Preț vechi: 1631.81 lei
-18%
Puncte Express: 2007
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 20 mai-03 iunie
Specificații
ISBN-13: 9780792363002
ISBN-10: 0792363000
Pagini: 399
Ilustrații: XVII, 399 p.
Dimensiuni: 156 x 234 x 24 mm
Greutate: 0.77 kg
Ediția:2000
Editura: SPRINGER NETHERLANDS
Colecția Springer
Seria Particle Technology Series
Locul publicării:Dordrecht, Netherlands
ISBN-10: 0792363000
Pagini: 399
Ilustrații: XVII, 399 p.
Dimensiuni: 156 x 234 x 24 mm
Greutate: 0.77 kg
Ediția:2000
Editura: SPRINGER NETHERLANDS
Colecția Springer
Seria Particle Technology Series
Locul publicării:Dordrecht, Netherlands
Public țintă
ResearchCuprins
Particle Characterization.- Light Scattering.- Laser Diffraction.- Optical Particle Counting.- Photon Correlation Spectroscopy.- Electrophoretic Light Scattering.