Dieses Buch beinhaltet eine Sammlung hierarchisch strukturierter Beispiele zur Demonstration der Leistungsf higkeit heutiger Simulationssysteme zur Analyse der St remissionen von Leiterplatten. Sind die geometrischen Strukturen von relativ einfacher Komplexit t, wird auf das numerische Verfahren der Momentenmethode zur ckgegriffen. Diese Methode erm glicht eine sehr genaue Analyse aller physikalisch relevanten Mechanismen der Emission und Absorption elektromagnetischer Strahlung. Jedoch kann bei realen Leiterplatten die geometrische Komplexit t durch viele tausend Verbindungsleitungen in einem Multilayerdesign gegeben sein, f r die numerische Verfahren wie die Momentenmethode nicht mehr einsetzbar sind. Zur L sung derartig komplexer Beispiele wird alternativ ein Verfahren vorgestellt, das als Expertensystem aufzubauen ist. Obwohl dieser Ansatz die physikalische Natur der Ab- und Einstrahlungsmechanismen nicht vollst ndig abbilden kann, scheint es derzeit der einzig realisierbare Weg zur Schaffung eines rechnergest tzten Analysewerkzeuges zur Absch tzung des Strahlungsverhaltens von Leiterplatten zu sein.