Cantitate/Preț
Produs

Microwave Integrated Circuits: Microwave and RF Techniques and Applications, cartea 8

Editat de I. Kneppo
en Limba Engleză Paperback – 3 oct 2013
Microwave Integrated Circuits provides a comprehensive overview of analysis and design methods for integrated circuits and devices in microwave systems. Passive and active devices, and linear and non-linear circuits are covered with a final chapter detailing measurement and test techniques.
Citește tot Restrânge

Din seria Microwave and RF Techniques and Applications

Preț: 117681 lei

Preț vechi: 143513 lei
-18%

Puncte Express: 1765

Carte tipărită la comandă

Livrare economică 17-31 iulie

Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit pentru acest produs Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.

Specificații

ISBN-13: 9789401045353
ISBN-10: 9401045356
Pagini: 348
Ilustrații: XIV, 329 p.
Dimensiuni: 155 x 235 x 19 mm
Greutate: 0.53 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1994
Editura: Springer
Colecția Microwave and RF Techniques and Applications
Seria Microwave and RF Techniques and Applications

Locul publicării:Dordrecht, Netherlands

Public țintă

Research

Cuprins

1 Introduction.- References.- 2 Analysis of passive circuit elements.- 2.1 Transmission Lines for Microwave Integrated Circuits.- 2.2 Discontinuities by M. Pavel.- 2.3 Lumped elements.- References.- 3 Modelling of active semiconductor circuit elements.- 3.1 Schottky-barrier diodes.- 3.2 Varactor diodes.- 3.3 p-i-n diodes.- 3.4 Bipolar transistors.- 3.5 MESFETs.- 3.6 HEMTs.- References.- 4 Basic circuits.- 4.1 Methods of the MIC synthesis by I. Kneppo and J. Fabian.- 4.2 Basic linear circuits by P. Bezoušek, F. Hrní?ko and M. Pavel.- 4.3 Basic active non-linear circuits by P. Bezoušek, F. Hrní?ko and M. Pavel.- References.- 5 Measuring and testing.- 5.1 Incorporation of the MIC measured into the measuring system: Microwave test fixtures and probes.- 5.2 Measurement techniques.- References.