Cantitate/Preț
Produs

Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XXVIII: Proceedings of SPIE


en Limba Engleză Paperback – 30 iun 2014
Proceedings of SPIE offer access to the latest innovations in research and technology and are among the most cited references in patent literature.
Citește tot Restrânge

Din seria Proceedings of SPIE

Preț: 136261 lei

Preț vechi: 166173 lei
-18% Nou

Puncte Express: 2044

Preț estimativ în valută:
24108 28086$ 21053£

Carte indisponibilă temporar

Doresc să fiu notificat când acest titlu va fi disponibil:

Preluare comenzi: 021 569.72.76

Specificații

ISBN-13: 9780819499738
ISBN-10: 0819499730
Pagini: 277
Dimensiuni: 152 x 229 mm
Editura: SPIE Press
Seria Proceedings of SPIE