Investigating Plagiarism in Second Language Writing: Elements in Applied Linguistics
Autor Jun Lei, Guangwei Huen Limba Engleză Paperback – 9 dec 2024
Preț: 142.46 lei
Puncte Express: 214
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 06-20 iunie
Specificații
ISBN-13: 9781009350853
ISBN-10: 1009350854
Pagini: 62
Dimensiuni: 152 x 229 x 4 mm
Greutate: 0.1 kg
Editura: Cambridge University Press
Seria Elements in Applied Linguistics
ISBN-10: 1009350854
Pagini: 62
Dimensiuni: 152 x 229 x 4 mm
Greutate: 0.1 kg
Editura: Cambridge University Press
Seria Elements in Applied Linguistics