Hydrogen in Metals III: Properties and Applications: Topics in Applied Physics, cartea 73
R.G. Barnes Editat de Helmut Wipf P. Dantzer, H. Grabert, D.K. Ross, H.R. Schober, H. Vehoff, H. Wipfen Limba Engleză Paperback – 23 aug 2014
Din seria Topics in Applied Physics
-
Preț: 410.68 lei - 18%
Preț: 1345.51 lei - 18%
Preț: 1497.46 lei - 18%
Preț: 752.87 lei - 18%
Preț: 702.39 lei - 24%
Preț: 780.82 lei -
Preț: 371.37 lei -
Preț: 373.24 lei - 18%
Preț: 1185.07 lei - 18%
Preț: 1176.42 lei - 18%
Preț: 1332.30 lei - 18%
Preț: 2019.84 lei - 18%
Preț: 1173.85 lei - 18%
Preț: 2015.01 lei - 18%
Preț: 918.77 lei - 18%
Preț: 1179.46 lei - 18%
Preț: 1182.17 lei - 18%
Preț: 1332.90 lei -
Preț: 377.68 lei - 18%
Preț: 1759.19 lei - 18%
Preț: 1200.83 lei - 18%
Preț: 1764.96 lei - 24%
Preț: 1274.24 lei - 18%
Preț: 927.26 lei - 18%
Preț: 906.94 lei - 18%
Preț: 912.25 lei - 18%
Preț: 1170.20 lei - 18%
Preț: 921.95 lei - 18%
Preț: 906.80 lei -
Preț: 376.75 lei
Preț: 377.32 lei
Puncte Express: 566
Preț estimativ în valută:
66.70€ • 79.53$ • 57.86£
66.70€ • 79.53$ • 57.86£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 16-30 martie
Specificații
ISBN-13: 9783662309506
ISBN-10: 3662309505
Pagini: 368
Ilustrații: XV, 351 p. 23 illus.
Dimensiuni: 155 x 235 x 19 mm
Greutate: 0.51 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1997
Editura: Springer Berlin, Heidelberg
Colecția Springer
Seria Topics in Applied Physics
Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany
ISBN-10: 3662309505
Pagini: 368
Ilustrații: XV, 351 p. 23 illus.
Dimensiuni: 155 x 235 x 19 mm
Greutate: 0.51 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1997
Editura: Springer Berlin, Heidelberg
Colecția Springer
Seria Topics in Applied Physics
Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany
Public țintă
ResearchCuprins
Theory of tunneling and diffusion of light interstitials in metals.- Diffusion of hydrogen in metals.- Nuclear magnetic resonance in metal hydrogen systems.- Neutron scattering studies of metal hydrogen systems.- Hydrogen related material problems.- Metal-Hydride technology: A critical review.