Diffraction from Materials: Materials Research and Engineering
Autor Lyle H. Schwartz, Jerome B. Cohenen Limba Engleză Paperback – 13 iul 2013
Preț: 634.54 lei
Preț vechi: 746.52 lei
-15%
Puncte Express: 952
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 27 iulie-10 august
Livrare prin curier în România Termenul estimat este afișat lângă disponibilitate.
Transport gratuit pentru acest produs Plată online sau ramburs, în funcție de opțiunile comenzii.
Retur gratuit în 14 zile Comandă securizată și suport în română.
Specificații
ISBN-13: 9783642829291
ISBN-10: 3642829295
Pagini: 612
Ilustrații: XV, 591 p. 109 illus.
Greutate: 0.96 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 2nd ed. 1987
Editura: Springer Berlin, Heidelberg
Colecția Springer
Seria Materials Research and Engineering
Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany
ISBN-10: 3642829295
Pagini: 612
Ilustrații: XV, 591 p. 109 illus.
Greutate: 0.96 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 2nd ed. 1987
Editura: Springer Berlin, Heidelberg
Colecția Springer
Seria Materials Research and Engineering
Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany
Public țintă
ResearchCuprins
1. Geometry of Crystal Structures.- 2. The Nature of Diffraction.- 3. Properties of Radiation Useful for Studying the Structure of Materials.- 4. Recording the Diffraction Pattern.- 5. Crystal Symmetry and the Diffraction Pattern.- 6. Determination of Crystal Structures.- 7. What Else Can We Learn from a Diffraction Experiment Besides the Average Structure?.- 8. The Dynamical Theory of Diffraction.- Appendix A: Location of Useful Information in International Tables for Crystallography.- Appendix B: Crystallographic Classification of the 230 Space Groups.- Appendix C: Determination of the Power of the Direct Beam in X-ray Diffraction.- Method 1: Aluminum Powder.- Method 2: Polystyrene.- Method 3: Multiple Foils.- Method 4: The Ionization Chamber.- References.- Appendix D: Accuracy in Digital Counting.- D.1 Some Additional Information on Counting Electronics.- D.2 Measurement of Dead Time.- Answers to Selected Problems.