Ce projet a porte sur la synthese du materiau massif quaternaire CZTS par le biais de la methode de Bridgman horizontale et l'elaboration des couches minces dudit materiau par la technique d'evaporation thermique sous vide. Au cours de ce travail, trois methodes d'analyse ont ete adoptees dans le but d'effectuer la caracterisation structurale, optique et electrique des couches minces de CZTS a savoir la diffraction des rayons X, la spectrometrie UV-Vis ainsi que la methode de la pointe chaude. La caracterisation structurale a porte sur la determination des phases cristallines presentes dans les couches elaborees a des temperatures de substrats variees ainsi que des parametres de maille selon la methode cristallographique classique et la methode de Nelson-Riley. La caracterisation optique a concerne la determination des constantes optiques telles que le coefficient d'absorption optique ainsi que le gap optique et leur evolution en fonction de la temperature des substrats. La caracterisation morphologique a concerne le calcul de la rugosite des couches alors que la caracterisation electrique a porte sur la determination du type de conductivite des diverses couches minces de CZTS."