Characterisation and Control of Defects in Semiconductors
Editat de Filip Tuomistoen Limba Engleză Hardback – 16 dec 2019
Preț: 906.50 lei
Preț vechi: 1105.49 lei
-18% Nou
Puncte Express: 1360
Preț estimativ în valută:
160.41€ • 187.07$ • 140.84£
160.41€ • 187.07$ • 140.84£
Carte disponibilă
Livrare economică 26 decembrie 25 - 09 ianuarie 26
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9781785616556
ISBN-10: 1785616552
Pagini: 596
Dimensiuni: 163 x 239 x 33 mm
Greutate: 1.09 kg
Editura: Institution of Engineering and Technology
ISBN-10: 1785616552
Pagini: 596
Dimensiuni: 163 x 239 x 33 mm
Greutate: 1.09 kg
Editura: Institution of Engineering and Technology